[发明专利]一种存储器读取速度测量电路在审
| 申请号： | 201810035251.1 | 申请日： | 2018-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN110047552A | 公开（公告）日： | 2019-07-23 |
| 发明（设计）人： | 唐明;马继荣 | 申请（专利权）人： | 北京同方微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区五*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 读取 存储器 二路选择器 读取操作 锁存器 存储数据 速度测量电路 速度测试 模式开关信号 内部定时信号 芯片内部数据 存储器读取 控制存储器 控制锁存器 时钟占空比 测量电路 传输延时 电路读取 电路连接 读出数据 直接测量 准确测量 低成本 原有的 内置 锁存 锁器 读出 电路 传送 保留 | ||
1.一种存储器读出速度测量电路，其特征在于，所述测量电路包括读取操作电路、锁存器和二路选择器，其中，读取操作电路连接锁存器，二路选择器连接并控制锁存器，二路选择器内置内部定时信号、读取时钟和读取速度测试模式开关信号，读取操作电路读取存储器中的存储数据，并将所读取的存储数据传送给锁存器，锁存器锁存保持住所读取的存储数据；
存储器读取操作时，二路选择器选择内部定时信号来控制锁存器，读取速度测试模式开关信号设置为0，即锁存器控制信号等于内部定时信号，读取时钟的上升沿触发读取操作电路读取存储数据，内部定时信号在等待足够时间后，读取操作电路读出存储数据，内部定时信号产生一低电平脉冲，下降沿触发锁存器所锁存的存储数据，并输出到存储器外，完成存储器读操作；
存储器读取速度测试操作时，二路选择器选择读取时钟来控制锁存器，读取速度测试模式开关信号设置为1，即锁存器控制信号等于读取时钟，读取时钟的上升沿触发读取操作电路读取存储数据，读取时钟的下降沿触发锁存器所锁存的存储数据，并输出到存储器外，完成存储器读操作。
2.如权利要求1所述的存储器读出速度测量电路，其特征在于，所述锁存器22受外部输入的同步时钟控制，同步时钟与读取时钟保持同步，且同步时钟的下降沿与读取时钟的上升沿有一定的延时；存储器读取操作时或者存储器读取速度测试操作时，读取时钟的上升沿触发读取操作电路读取存储数据，同步时钟的下降沿触发锁存器所锁存的存储数据，并输出到存储器外，完成存储器读操作。
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