[发明专利]一种基于Sift特征的隧道展布图拼接参数处理方法有效

专利信息
申请号: 201810038940.8 申请日: 2018-01-16
公开(公告)号: CN108109112B 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 刘学增;朱爱玺;刘新根;陈莹莹 申请(专利权)人: 上海同岩土木工程科技股份有限公司
主分类号: G06T3/40 分类号: G06T3/40;G06T7/33
代理公司: 上海浦东良风专利代理有限责任公司 31113 代理人: 张劲风
地址: 200092 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 sift 特征 隧道 展布 拼接 参数 处理 方法
【权利要求书】:

1.一种基于Sift特征的隧道展布图拼接参数处理方法,其特征在于,所述的隧道展布图拼接参数处理方法包括以下步骤:

S1、选择图像的有效匹配范围,起始图像编号记为N1,结束图像编号记为N2,其中N1 N2;

S2、获取当前进行匹配的图像,源图记为Pic1_Src,目标图记为Pic2_Src;

S3、根据图像的灰度均值提升图像亮度,Pic1_Src和Pic2_Src提升亮度后分别对应于Pic1和Pic2,图像的宽和高分别记为W、H,其中Pic1和Pic2的尺寸一致;

S4、获取Pic1和Pic2的特征点坐标分别记为KeyPoint1、KeyPoint2,描述子分别记为Descriptors1、Descriptors2,剔除伪匹配点之后,匹配特征点信息记为Matches2;

S5、对步骤S4中得到的匹配特征点进一步剔除误匹配点,利用真实匹配点X方向和Y方向上的特征,计算X方向和Y方向的距离,距离小于设定阈值的点剔除,纵向拼接阈值设定为0.2*H,环向拼接阈值设定为0.2*W,记源图中X坐标和Y坐标分别为Point1X、Point1Y,目标图中X坐标和Y坐标分别为Point2X、Point2Y;

S6、针对于步骤S5中修正后的匹配特征点,进一步计算X方向和Y方向距离的均值、方差以及特征点的个数,若特征点数少于6则重新从S2步骤进行匹配,若满足个数判定条件,则计算X方向距离、Y方向距离的均值和方差,对于纵向拼接和环向拼接,均值和方差分别记为meanX、varX、meanY、varY;对应的阈值分别为TMX,TVX,TMY,TVY,若均值和方差均小于阈值,则认为当前两张图匹配成功,否则从S2步骤开始,重新选择匹配图,直到满足条件为止;

S7、计算两张图像的拼接参数,即重叠度,记为overlap_degree;(a)对于环向拼接,overlap_degree=meanX/W;(b)对于纵向拼接,overlap_degree=meanY/H;

S8、根据经验值,修正异常拼接参数,环向拼接参数记为Circle_overlap,纵向拼接参数记为Vertical_overlap。

2.根据权利要求1所述的一种基于Sift特征的隧道展布图拼接参数处理方法,其特征在于,所述步骤S2的具体操作如下:

(1)设定相机编号,起始编号记为C1,结束编号记为C2,其中C1C2;

(2)选择当前进行匹配的图像,选择方法如下:

(a)对于纵向拼接参数,需要在同一个相机拍摄的图像中进行选取,相机编号记为Cam_Idx,选取第一张图作为源图,编号记为Pic1_Idx,图像记为Pic1_Src,另外一张图像编号记为Pic2_Idx,图像记为Pic2_Src;其中,Pic2_Idx=Pic1_Idx+1,Pic1_Idx ∈[N1,N2-1],Cam_Idx∈ [C1,C2];

(b)对于环向拼接参数,需要在相邻相机拍摄的图像中进行选取,选取第一张图作为源图,其相机编号为Cam1_Idx,图像编号为Pic_Idx,图像记为Pic1_Src,另外一张图像的相机编号为Cam2_Idx,图像编号同样为Pic_Idx,图像记为Pic2_Src,其中Cam2_Idx=Cam1_Idx-1,Pic_Idx∈[N1,N2],Cam1_Idx∈[C1+1,C2]。

3.根据权利要求1所述的一种基于Sift特征的隧道展布图拼接参数处理方法,其特征在于,所述步骤S3的具体操作如下:

(1)计算原图的图像灰度均值,原始设为I,均值记为MeanValue;

(2)设图像灰度均值的目标值为TargetValue,亮度系数记为coef,其中coeft为预期亮度系数,计算方法如下:

(3)调整亮度后的图像记为I_adlight,

那么,针对于步骤S2中选择的图像,亮度调整后分别记为Pic1和Pic2。

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