[发明专利]传感器测试方法、装置及可读存储介质

说明书

一种传感器测试方法、装置及可读存储介质，应用于主板中，所述传感器与所述主板连接，测试时与所述主板相距预设距离的位置设置一挡板，所述传感器包括光强度感应器和红外线发射器，用于对环境光感应和红外光感应，所述传感器测试方法包括：获取不同的增益参数条件下所述光强度感应器检测的环境光亮度，并判断所述环境光亮度是否随着所述增益参数的改变而改变；若是，通过改变红外发射功率进行模拟所述挡板靠近和远离所述传感器的试验；当所述试验成功时，确定所述传感器功能正常。本发明实施例中的方法可以在产品贴装(SMT)时快速检测ALSP‑Sensor电路及器件功能正常与否。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别是涉及一种传感器测试方法、装置及可读存储介质。

背景技术

随着电子技术的不断发展，智能终端设备，例如手机、平板电脑等逐渐成为人们与外界沟通及个人资源管理的重要工具，为人们的生活带来了许多便利。

随着智能终端的应用和功能不断增多，随之各种传感器也逐渐应用于智能终端中。现有技术中，终端所用的传感器包括重力传感器、陀螺仪、光感距离传感器等。其中，光感-距离传感器(ALSP-Sensor)是智能终端设备的一个重要的组成部分。其主要作用有两点：

其一，感应外界光线强度来调节屏幕亮度，以达到省电和视觉舒适的目的；

其二，感知人脸等物体的靠近和远离进行锁屏和解锁，例如接电话时，当人脸靠近屏幕，屏幕灯会熄灭，并自动锁屏，可以防止脸误操作，当人脸离开，屏幕灯会自动开启，并且自动解锁。

现有技术中的光感-距离传感器测试主要通过专门的检测仪进行检测，或整机产品生产完成后进行整机测试，其检测速度慢、效率低，浪费人力物力。

发明内容

鉴于上述状况，有必要针对现有技术中光感-距离传感器测试效率低的问题，提供一种传感器测试方法、装置及可读存储介质。

一种传感器测试方法，应用于主板中，所述传感器与所述主板连接，测试时与所述主板相距预设距离的位置设置一挡板，所述传感器包括光强度感应器和红外线发射器，所述传感器测试方法包括：

获取不同的增益参数条件下所述光强度感应器检测的环境光亮度，并判断所述环境光亮度是否随着所述增益参数的改变而改变；

若是，通过改变红外发射功率进行模拟所述挡板靠近和远离所述传感器的试验；

当所述试验成功时，确定所述传感器功能正常。

上述传感器测试方法，其中，所述通过改变红外发射功率进行模拟所述挡板靠近和远离所述传感器的试验的步骤包括：

获取不同红外线发射功率条件下所述光强度感应器检测的距离，所述距离为所述光强度感应器检测的所述挡板的位置；

根据所述距离与所述外线发送功率的关系确实定否存在所述挡板靠近和远离所述传感器的现象；

若是，确定所述试验成功。

上述传感器测试方法，其中，根据所述距离与所述外线发送功率的关系确实定否存在所述挡板靠近和远离所述传感器的现象的步骤包括：

当所述距离随着所述红外线发送功率的减小而增大时，确定所述挡板远离所述传感器；

当所述红外线发送功率的增大而减小时，确定所述挡板靠近所述传感器。

上述传感器测试方法，其中，所述获取不同增益参数条件下所述光强度感应器检测的环境光亮度，并判断所述环境光亮度是否随着所述增益参数的改变而改变的步骤包括：

依次获取预设的多个测试周期的增益参数组，每个所述增益参数组包括两个不同的增益参数；