[发明专利]一种基于白光干涉的分布式动态应力频率测量方法有效

专利信息
申请号: 201810043277.0 申请日: 2018-01-17
公开(公告)号: CN108489640B 公开(公告)日: 2020-10-02
发明(设计)人: 张红霞;王宇瑶;温国强;贾大功;刘铁根 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01L1/10 分类号: G01L1/10;G01L5/00
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 程毓英
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 白光 干涉 分布式 动态 应力 频率 测量方法
【权利要求书】:

1.一种基于白光干涉的分布式动态应力频率测量方法,利用基于白光干涉的分布式偏振耦合测试系统实现,包括如下的步骤:

1)利用压电陶瓷对保偏光纤施加动态应力,方法为:由光源发出的高斯光经起偏器成为线偏振光耦合至保偏光纤的慢轴,在经过压电陶瓷产生的动态应力时,一部分光耦合至光纤快轴,在光纤出射端,光经过扩束镜后成为空间平行光;可旋转半波片将快慢轴的光与检偏器透光轴之间的夹角调整为45°,检偏器将快慢轴的光投影至同一方向上;然后光进入迈克尔逊干涉仪,通过迈克尔逊干涉仪一臂移动,对保偏光纤中产生的光程差进行扫描;在迈克尔逊干涉仪出射端,由光电探测器接收扫描得到的干涉图,接收信号经数据采集卡传输至计算机,在距离光纤出射端47.3 cm位置处,由一个自由行程为8 mm,外形尺寸为3.4 x4.8 x 9.0 mm,驱动电压范围为0-75V的压电陶瓷对保偏光纤施加动态应力,动态应力大小由驱动压电陶瓷的信号发生器的输出电压大小决定;

2)利用分布式偏振耦合系统对动态应力下的白光干涉图进行测量,得到干涉图样;

3)对干涉图中的动态耦合点进行截取,并对数据做Hilbert变换得到耦合点的包络,然后对耦合点包络曲线进行小波变换得到的时频分布图,采用的小波基函数为cmor3-3小波,尺度序列长度为4096,时频分布图中包含有动态应力的频率信息。

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