[发明专利]位置检测装置及方法、位置控制装置、盘存储装置有效
申请号: | 201810052610.4 | 申请日: | 2018-01-19 |
公开(公告)号: | CN108630236B | 公开(公告)日: | 2019-09-06 |
发明(设计)人: | 松泽卓治 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
主分类号: | G11B5/55 | 分类号: | G11B5/55 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 张轶楠;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 位信息 位置检测装置 分割 位置控制装置 盘存储装置 基于位置 位置检测 信息生成 低位 信息周期性 互质 检测 | ||
1.一种位置检测装置,
具备对基于位置信息生成的多个信息周期性地进行检测的检测部,
所述位置信息被分割为高位位和低位位,
所述高位位进一步被分割为与所述周期相同数量的多个高位位信息,
所述多个高位位信息中的各高位位信息以已确定的顺序得到,
所述低位位与所述多个高位位信息中的任一高位位信息都同时得到,
所述位置信息,按照使得在对所述高位位进行分割而得到的1个所述高位位信息中可取得的值的数与对所述高位位进行分割的数为互质的方式被分割。
2.根据权利要求1所述的位置检测装置,其特征在于,
对所述高位位进行分割的数为奇数。
3.根据权利要求1或2所述的位置检测装置,其特征在于,
在所述多个高位位信息中、第1高位位信息中的低位部分和比所述第1高位位信息靠低位侧一位的第2高位位信息中的高位部分重复的情况下,按照使得在所述1个高位位信息中可取得的值的数和对所述高位位进行分割的数的最大公约数为基数的重复位数次乘方以下的方式对所述高位位进行分割。
4.根据权利要求1或2所述的位置检测装置,其特征在于,
在所述多个高位位信息中、第1高位位信息中的低位侧比特与比所述第1高位位信息靠低位侧一位的第2高位位信息中的高位侧比特重复的情况下,按照使得对所述高位位进行分割的数和2的所述高位位信息的比特数次乘方的最大公约数为2的重复比特数次乘方以下的方式对所述高位位进行分割。
5.一种位置控制装置,基于由权利要求1到4中的任一项所述的位置检测装置检测出的所述多个信息来执行定位控制。
6.一种盘存储装置,具备:
盘,其将基于用于检测径向的位置的位置信息生成的多个伺服信息周期性地存储到在周向上配置的多个伺服区域;和
控制器,其对所述盘与头的相对位置进行控制,并对向所述盘写入数据和从所述盘读出数据进行控制,
其特征在于,
所述位置信息被分割为高位位和低位位,
所述高位位进一步被分割为与周向的伺服区域的周期相同数量的多个高位位信息,所述多个高位位信息中的各高位位信息被周期性地分配给多个伺服区域中的对应的伺服区域,
所述低位位被分配给所述多个伺服区域中的各伺服区域,
存储于所述盘的所述位置信息,按照使得在对所述高位位进行分割而得到的1个高位位信息中可取得的值的数与对所述高位位进行分割的数为互质的方式被分割。
7.根据权利要求6所述的盘存储装置,其特征在于,
所述控制器具备:
状态推定部,其对所述头的包括位置在内的状态进行推定;
偏移检测部,其对由所述状态推定部推定出的状态相对于现实的状态具有偏移的情况进行检测;
偏移量推定部,其在由所述偏移检测部检测出偏移的情况下,对由所述状态推定部推定出的状态的偏移量进行推定;以及
状态修正部,其基于由所述偏移量推定部推定出的偏移量,对由所述状态推定部推定出的所述状态进行修正。
8.根据权利要求7所述的盘存储装置,其特征在于,
所述控制器还具备偏移修正部,所述偏移修正部对由所述偏移检测部检测出的所述偏移进行修正,
所述状态推定部使用由所述偏移修正部修正后的修正偏移,对所述状态进行推定。
9.一种位置检测方法,
包括对基于位置信息生成的多个信息周期性地进行检测,
所述位置信息被分割为高位位和低位位,
所述高位位进一步被分割为与所述周期相同数量的多个高位位信息,
所述多个高位位信息中的各高位位信息以已确定的顺序得到,
所述低位位与所述多个高位位信息中的任一高位位信息都同时得到,
所述位置信息,按照使得在对所述高位位进行分割而得到的1个所述高位位信息中可取得的值的数与对所述高位位进行分割的数为互质的方式被分割。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社,未经株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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