[发明专利]运算处理装置以及运算处理方法有效

专利信息
申请号: 201810052679.7 申请日: 2018-01-19
公开(公告)号: CN109542697B 公开(公告)日: 2023-01-31
发明(设计)人: 山田裕 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/14
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 刘英华
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 运算 处理 装置 以及 方法
【说明书】:

本发明的实施方式提供实时地进行对周期性地输入的数据的实际的运算处理和该实际的运算处理是否产生了差错的判断的运算处理装置以及运算处理方法。ISP(2)具备:进行对从摄像装置(10)按每帧输入的动画的图像数据的图像运算处理的运算处理电路(3)及与运算处理电路(3)连接的备份控制电路(4)以及诊断处理电路(5)。ISP(2)通过这些构成要素,按动画的图像数据的每帧,实时地进行对图像数据的图像运算处理及图像运算处理中的差错的检测。

【关联申请】

本申请享受以日本专利申请2017-180772号(申请日:2017年9月21日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。

技术领域

本发明的实施方式涉及运算处理装置以及运算处理方法。

背景技术

将产生测试功能的测试模式的电路和对测试结果的期望值进行比对的电路装入到进行运算处理的LSI芯片中,对LSI芯片进行测试的BIST(built-in selftest:内建自测试)方式为人们所知。另外,将LSI内的运算电路二重化并将对这2个运算电路输入相同的数据而获得的2个处理结果进行比较来检测处理的差错的方式为人所知。通过该BIST方式,在LSI芯片处于运转状态期间,无法实时地判断运算处理是否产生了差错。另外,上述背景技术所示的LSI内的运算电路的二重化使LSI的电路规模以及芯片尺寸增大。

发明内容

本发明提供不会使LSI的电路规模以及芯片尺寸增大,能够实时地判断运算处理是否产生差错的运算处理装置以及运算处理方法。

本发明的运算处理装置具备:运算处理电路,每隔预先决定的周期进行对从外部输入的输入数据的运算处理,获得所述运算处理的结果即处理后数据;诊断处理电路,每隔所述周期,除了进行对所述输入数据的运算处理时以外,使所述运算处理电路对所述运算处理的诊断所用的诊断用数据进行运算处理,并基于对所述诊断用数据的运算处理的结果,进行诊断所述运算处理电路中的运算处理是否产生了差错的诊断处理;第一判定处理电路,每隔所述周期,进行判定除了对所述输入数据的运算处理所需要的时间以外是否有进行所述诊断处理的时间的第一判定处理;以及诊断控制电路,在判定为有进行所述诊断处理的时间时,进行使所述诊断处理电路进行诊断处理的诊断控制。

附图说明

图1是表示本发明的实施方式的图像处理装置的构成的图。

图2是表示图1所示的ISP的构成的图。

图3是表示图2所示的运算处理电路的构成的图。

图4是表示图2所示的备份控制电路的构成的图。

图5是表示图2所示的诊断处理电路的构成的图。

图6的(a)~(e)是运算处理电路中的图像运算处理正常进行时的时序图。

图7的(a)~(e)是运算处理电路中的图像运算处理产生了异常时的时序图。

图8是表示图1所示的图像处理装置中的图像运算处理正常进行时的整体的动作(S10)的程序图。

图9是表示图1所示的图像处理装置中异常地进行了图像运算处理时的整体的动作(S14)的程序图。

图10是表示图3所示的运算处理电路中被替换为第一参数存储器以及第一状态存储器的第二参数存储器340以及第一状态存储器342的构成的图。

具体实施方式

[第一实施方式]

以下,对于第一实施方式,参照附图详细地说明。在实施方式中,对同一构成部分或处理附以同一符号。

[图像处理装置1的构成]

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