[发明专利]距离计测装置有效

专利信息
申请号: 201810053142.2 申请日: 2018-01-19
公开(公告)号: CN109521435B 公开(公告)日: 2023-05-02
发明(设计)人: 久保田宽;松本展;佐藤早纪;福岛知纪 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 房永峰
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 距离 装置
【权利要求书】:

1.一种距离计测装置,其特征在于,

具备:

出射部,每规定周期使光延迟随机的时间长的偏移的量后间歇地出射;以及

计测部,基于从上述出射部出射光开始到由被测定物反射后得到的反射光返回为止的时间以及使每上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计而生成的累计检测信号,计测到上述被测定物的距离,

上述计测部使每上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计从而生成第1累计检测信号,并且,使每上述规定周期的光的多个检测信号不错开各自的上述偏移的量而进行分时累计从而生成第2累计检测信号,基于上述第1累计检测信号以及上述第2累计检测信号,计测到上述被测定物的距离。

2.如权利要求1所述的距离计测装置,其特征在于,

上述计测部具有:

存储部,将每上述规定周期的光的多个检测信号与各自的上述偏移一起存储;

有移位的分时累计部,参照上述存储部,使每上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计从而生成第1累计检测信号;

无移位的分时累计部,参照上述存储部,使每上述规定周期的光的多个检测信号不错开各自的上述偏移的量而进行分时累计从而生成第2累计检测信号;以及

判定部,基于上述第1累计检测信号以及上述第2累计检测信号,判断上述检测信号中的光是否是从上述出射部出射并由上述被测定物反射后得到的反射光。

3.如权利要求1所述的距离计测装置,其特征在于,

上述计测部在基于上述第1累计检测信号以及上述第2累计检测信号判断为上述检测信号中的光是从上述出射部出射并由上述被测定物反射后得到的反射光的情况下,使用该反射光的峰值附近的检测信号,计测到上述被测定物的距离。

4.一种距离计测装置,其特征在于,

具备:

出射部,每规定周期使光延迟偏移的量后间歇地出射,上述偏移是从预先准备的多个偏移中基于随机数而选择的偏移;

计测部,基于从上述出射部出射光开始到由被测定物反射后得到的反射光返回为止的时间以及使每上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计而生成的累计检测信号,计测到上述被测定物的距离。

5.如权利要求4所述的距离计测装置,其特征在于,

上述出射部基于随机数,分别决定针对1次距离计测间歇地出射的多个光的时间间隔。

6.如权利要求4所述的距离计测装置,其特征在于,

上述出射部基于随机数从预先准备的多个时间间隔的组中进行选择,由此决定针对1次距离计测间歇地出射的多个光的时间间隔。

7.一种距离计测装置,其特征在于,

具备:

出射部,间歇地出射光;以及

计测部,基于从上述出射部出射光开始到由被测定物反射后得到的反射光返回为止的时间,计测到上述被测定物的距离,

上述出射部每规定周期使光延迟随机的时间长的偏移的量后出射,

上述计测部在每次出射时实施距离的计测,通过将成为对象的出射的距离计测结果与在成为上述对象的出射的前后出射而得到的距离计测结果进行比较,来判断光是否是从上述出射部出射并由上述被测定物反射后得到的反射光,

上述计测部具有:

存储部,将每上述规定周期的光的多个检测信号与各自的上述偏移一起存储;

有移位的分时累计部,参照上述存储部,使每上述规定周期的光的多个检测信号错开各自的上述偏移的量后进行分时累计从而生成第1累计检测信号;

无移位的分时累计部,参照上述存储部,使每上述规定周期的光的多个检测信号不错开各自的上述偏移的量而进行分时累计从而生成第2累计检测信号;以及

判定部,基于上述第1累计检测信号以及上述第2累计检测信号,判断上述检测信号中的光是否是从上述出射部出射并由上述被测定物反射后得到的反射光。

8.一种距离计测装置,其特征在于,

将权利要求1到权利要求6的任一项所记载的距离计测装置所做的是否是正规的反射光的判断和权利要求7所记载的距离计测装置所做的是否是正规的反射光的判断组合,来进行是否是正规的反射光的判断。

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