[发明专利]一种可调电压的MRAM读出电路有效
申请号: | 201810053311.2 | 申请日: | 2018-01-19 |
公开(公告)号: | CN108288481B | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
发明(设计)人: | 戴瑾 | 申请(专利权)人: | 上海磁宇信息科技有限公司 |
主分类号: | G11C11/16 | 分类号: | G11C11/16 |
代理公司: | 上海容慧专利代理事务所(普通合伙) 31287 | 代理人: | 于晓菁 |
地址: | 201800 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 可调 电压 mram 读出 电路 | ||
1.一种可调电压的MRAM读出电路,包括电流镜、参考单元组、控制限流单元和运算放大器OP Amp,其特征在于,
所述电流镜由等同的PMOS管组成,其中,每一路所述 PMOS管的电流均为I_read,电阻的差别造成V_out和V_out_n的差别,被输入到下一级的比较器产生输出;
所述参考单元组包括一组并联的参考单元,部分置于P状态,另外的置于AP状态;所述参考单元组一端接地另外一端连接所述控制限流单元,连接点为A;
所述控制限流单元由同样的钳位电压V_clamp控制的一组等同的NMOS管组成,所述钳位电压V_clamp用于控制所述NMOS管的电阻,保护存储单元和参考单元不被施加高电压影响稳定性;
所述运算放大器OP Amp的一个输入为参考电压V_read,另一个输入为所述A点的电位V_A,所述运算放大器OP Amp的输出连接到所述钳位电压V_clamp,通过反馈效应,控制加在所述参考单元上的电压稳定在V_read左右。
2.如权利要求1所述的可调电压的MRAM读出电路,其特征在于,所述读出电路还包括可配置的参考电压产生器,所述可配置的参考电压产生器输出所述参考电压V_read。
3.如权利要求2所述的可调电压的MRAM读出电路,其特征在于,所述可配置的参考电压产生器通过所述MRAM的寄存器配置对所述V_read进行调整。
4.如权利要求2所述的可调电压的MRAM读出电路,其特征在于,所述可配置的参考电压产生器输入所述MRAM芯片内的温度传感器的温度,根据所述温度调整所述参考电压V_read。
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