[发明专利]一种无损检测的方法、装置、设备可读存储介质

权利要求书

1.一种无损检测的方法，其特征在于，包括：

获取被测目标物的每个位置点在至少两个时刻下的红外辐射量关联数据；

根据所述红外辐射量关联数据，确定与所述每个位置点对应的辐射量时间关联曲线；

使用所述辐射量时间关联曲线对设定时间因子进行求导，得到与所述每个位置点对应的导数曲线，并分别计算与各所述导数曲线对应的极值点；

根据与所述每个位置点对应的所述极值点，确定所述被测目标物的缺陷区域，和/或所述缺陷区域的缺陷深度，其中，所述极值点包含横坐标和纵坐标，所述横坐标是所述纵坐标取极值时的极值时间，将所述极值时间与预设的无缺陷位置的极值时间作比较，以确定所述被测目标物的缺陷区域，和/或所述缺陷区域的缺陷深度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述被测目标物包括复合绝缘子，所述设定时间因子包括时间的自然对数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，获取被测目标物的每个位置点在至少两个时刻下的红外辐射量关联数据，包括：

获取红外热像仪采集的所述被测目标物在至少两个时刻下的红外辐射量采集数据；

根据所述红外辐射量采集数据，获取被测目标物的每个位置点在至少两个时刻下的红外辐射量关联数据。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据与所述每个位置点对应的所述极值点，确定所述被测目标物的缺陷区域，和/或所述缺陷区域的缺陷深度，包括：

根据所述极值点的纵坐标值，构建所述被测目标物的灰度图像，确定所述被测目标物的缺陷区域；和/或

根据所述极值点的横坐标值，确定所述缺陷区域的缺陷深度。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述极值点的纵坐标值，构建所述被测目标物的灰度图像，确定所述被测目标物的缺陷区域，包括：

当所述灰度图像每个位置点的灰度值大于预设阈值时，确定所述位置点为缺陷点，根据所述缺陷点确定所述被测目标物的缺陷区域。

6.一种无损检测的装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取被测目标物的每个位置点在至少两个时刻下的红外辐射量关联数据；

关联曲线确定模块，用于根据所述红外辐射量关联数据，确定与所述每个位置点对应的辐射量时间关联曲线；

求导模块，用于使用所述辐射量时间关联曲线对设定时间因子进行求导，得到与所述每个位置点对应的导数曲线，并分别计算与各所述导数曲线对应的极值点；

缺陷确定模块，用于根据与所述每个位置点对应的所述极值点，确定所述被测目标物的缺陷区域，和/或所述缺陷区域的缺陷深度，其中，所述极值点包含横坐标和纵坐标，所述横坐标是所述纵坐标取极值时的极值时间，将所述极值时间与预设的无缺陷位置的极值时间作比较，以确定所述被测目标物的缺陷区域，和/或所述缺陷区域的缺陷深度。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述被测目标物包括复合绝缘子，所述设定时间因子包括时间的自然对数；

所述获取模块，包括：

第一获取子模块，用于获取红外热像仪采集的所述被测目标物在至少两个时刻下的红外辐射量采集数据；

第二获取子模块，用于根据所述红外辐射量采集数据，获取被测目标物的每个位置点在至少两个时刻下的红外辐射量关联数据。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述缺陷确定模块，包括：

缺陷区域确定子模块，用于根据所述极值点的纵坐标值，构建所述被测目标物的灰度图像，确定所述被测目标物的缺陷区域；和/或

缺陷深度确定子模块，用于根据所述极值点的横坐标值，确定所述缺陷区域的缺陷深度；

所述缺陷区域确定子模块，具体用于：

当所述灰度图像每个位置点的灰度值大于预设阈值时，确定所述位置点为缺陷点，根据所述缺陷点确定所述被测目标物的缺陷区域。