[发明专利]一种下落粒子的直径测量方法及激光雨滴谱仪有效
申请号: | 201810054826.4 | 申请日: | 2018-01-19 |
公开(公告)号: | CN108225198B | 公开(公告)日: | 2020-01-03 |
发明(设计)人: | 张垚;刘强;李佳 | 申请(专利权)人: | 北京敏视达雷达有限公司 |
主分类号: | G01B11/10 | 分类号: | G01B11/10;G01W1/14 |
代理公司: | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 100094 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 粒子 激光雨滴谱仪 基准激光 平行激光 激光 直径测量 测量 透射率 采样 准确度 环境干扰 环境因素 激光基准 激光接收 强度计算 检测 遮挡 | ||
1.一种下落粒子的直径测量方法,其特征在于,用于激光雨滴谱仪中,所述激光雨滴谱仪包括:激光发射端和激光接收端,所述激光发射端与所述激光接收端之间形成测量区域;所述方法包括:
所述激光发射端发射平行激光;
所述激光接收端接收所述激光发射端发射的平行激光,检测接收的平行激光的激光强度,当没有下落粒子遮挡平行激光时,根据当前环境的透射率设置N,并且根据检测到的平行激光的N个激光强度采样值计算出基准激光强度;其中,N大于1,并且所述N与所述透射率的变化趋势相同;
所述激光接收端实时计算接收到的平行激光的激光强度与所述基准激光强度的差值,当根据所述差值判断出激光强度发生突变时,根据所述差值计算下落粒子的直径,具体为:
其中,D'P为修正后的所述下落粒子的直径,Dl为没有下落粒子遮挡平行激光时所述激光接收端接收到的平行激光的宽度,Pb为所述基准激光强度,Ppmax为接收的平行激光被下落粒子遮挡时的激光强度最小值,f(Dp)为分段修正函数,并且根据修正前的下落粒子的直径Dp所在的区间,设置有对应的分段修正参数,b为直径修正系数。
2.根据权利要求1所述的直径测量方法,其特征在于,根据当前环境的透射率设置N包括:
根据当前接收的平行激光的激光强度确定当前环境的透射率,并且根据所述透射率设置N。
3.根据权利要求1所述的直径测量方法,其特征在于,所述基准激光强度为:
其中,Pb为所述基准激光强度,Pi_pmax为接收的平行激光的第i个激光强度采样值,>>为按位右移操作,m=log2N。
4.根据权利要求3所述的直径测量方法,其特征在于,m的取值区间为3至7的任一整数。
5.根据权利要求1所述的直径测量方法,其特征在于,还包括:
利用标准钢珠对所述分段修正函数中的分段修正参数进行标定。
6.一种激光雨滴谱仪,其特征在于,包括:激光发射端和激光接收端,所述激光发射端与所述激光接收端之间形成测量区域;
所述激光发射端用于,发射平行激光;
所述激光接收端用于,接收所述激光发射端发射的平行激光,检测接收的平行激光的激光强度,当没有下落粒子遮挡平行激光时,根据当前环境的透射率设置N,并且根据检测到的平行激光的N个激光强度采样值计算出基准激光强度;其中,N大于1,并且所述N与所述透射率的变化趋势相同;
所述激光接收端还用于,实时计算接收到的平行激光的激光强度与所述基准激光强度的差值,当根据所述差值判断出激光强度发生突变时,根据所述差值计算下落粒子的直径,具体为:
其中,D'P为修正后的所述下落粒子的直径,Dl为没有下落粒子遮挡平行激光时所述激光接收端接收到的平行激光的宽度,Pb为所述基准激光强度,Ppmax为接收的平行激光被下落粒子遮挡时的激光强度最小值,f(Dp)为分段修正函数,并且根据修正前的下落粒子的直径Dp所在的区间,设置有对应的分段修正参数,b为直径修正系数。
7.根据权利要求6所述的激光雨滴谱仪,其特征在于,所述激光接收端具体用于:
根据当前接收的平行激光的激光强度确定当前环境的透射率,并且根据所述透射率设置N。
8.根据权利要求6所述的激光雨滴谱仪,其特征在于,所述激光接收端计算出的基准激光强度为:
其中,Pb为所述基准激光强度,Pi_pmax为接收的平行激光的第i个激光强度采样值,>>为按位右移操作,m=log2N。
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