[发明专利]基于Labview的激光光束分析系统及方法有效
申请号: | 201810055273.4 | 申请日: | 2018-01-19 |
公开(公告)号: | CN108414094B | 公开(公告)日: | 2020-06-02 |
发明(设计)人: | 王雪辉;王建刚;胡松;许维;马云峰 | 申请(专利权)人: | 武汉华工激光工程有限责任公司 |
主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 胡建文 |
地址: | 430223 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 labview 激光 光束 分析 系统 方法 | ||
本发明涉及激光光束分析技术领域,提供了一种基于Labview的激光光束分析系统,包括相机识别模块、图像抓取处理模块、图像保存模块、图像参数计算处理模块以及参数统计模块。还提供一种基于Labview的激光光束分析方法。本发明通过相机识别模块对相机进行控制,通过图像参数计算处理模块进行参数计算,通过参数统计模块进行统计,通过图像保存模块自动生成带有软件截图的报告,可以减少测试工作量,缩短测试时间;系统开发成本低,若代替外购软件则可减少生产的成本费用,并且功能完善、易于维护。
技术领域
本发明涉及激光光束分析技术领域,具体为一种基于Labview的激光光束分析系统及方法。
背景技术
光束分析在激光相关的测试、制造、焊接和切割等领域备受关注。随着生产制造业的不断发展,激光的用越来越广泛。比如通过测量光斑坐标的稳定性,可以间接测量激光打标头的稳定性;在光学领域,对聚焦光斑的分析可被用来评估透镜或所设计光学系统对光束的作用效果,为产品的质量改善提供指导;在手机壳、玩具等各类塑料、玻璃、金属等材料的激光打标、切割、焊接领域中,都需要预先分析激光的光斑质量以改进工艺或者提高良品率等等。
目前的光束分析大多采用国外系统,价格高昂。此外,测试时需要测试者手动截图并自己撰写测试报告,较为繁琐。
发明内容
本发明的目的在于提供一种基于Labview的激光光束分析系统及方法,成本低、功能完善、易于维护,兼具相机控制和参数计算、统计功能,并能自动生成带有软件截图的报告,可以减少测试工作量,缩短测试时间。
为实现上述目的,本发明实施例提供如下技术方案:一种基于Labview的激光光束分析系统,包括相机识别模块、图像抓取处理模块、图像保存模块、图像参数计算处理模块以及参数统计模块;
所述相机识别模块,用于在程序开始或运行过程中识别已连接或新连接的相机,并供用户选择;
所述图像抓取处理模块,用于根据读图模式是否启用来执行读取图片生成光斑图像数据或者从所述相机中获取光斑图像;
所述图像保存模块,用于单独或连续保存所述图像抓取处理模块中获取的光斑图像,并将单独的光斑图像进行自动截图,将连续生成的光斑图像保存成视频;
所述图像参数计算处理模块,用于计算出图像的光斑参数;
所述参数统计模块,用于记录和统计光斑参数,并将其保存起来。
进一步,还包括程序初始化模块,所述程序初始化模块用于在分析开始时读取并应用保存的配置。
进一步,还包括序列号管理模块,所述序列号管理模块用于读取并验证被选中的相机的序列号。
进一步,还包括相机初始化模块,所述相机初始化模块用于对选中的相机的状态进行初始化,并进行初始化增益和曝光。
进一步,还包括扩展模块,所述扩展模块用于局部放大显示图像和观察光斑两轴的强度分布曲线。
本发明实施例提供另一种技术方案:一种基于Labview的激光光束分析方法,包括如下步骤:
S1,对从相机中获取的光斑图像采用二值化处理,求得图像的质心和峰值;对图像的像素值进行多次采样取平均得到平均的图像的像素值,在显示前,所有的图像的像素值都减去平均的图像的像素值,以消除噪声;
S2,在显示后,框选ROI区域,选取的方框可拖动和改变大小,以便于接下来的步骤计算参数;
S3,在框选的ROI区域中,图像的光斑的中心位置以所述质心为中心位置、以所述峰值为中心位置或通过手动选择的方式来确定中心位置,当采用手动选择的方式来确定中心位置时,通过右键点击目标位置或在附近进行右键拖动,直接选择要设为中心的点;
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