[发明专利]标志物检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种标志物检测装置，其特征在于，包括：第一模块，第二模块及第三模块；所述第一模块具有第一电感，所述第二模块具有相连接的第二电感及电容结构的标志物反应结构，所述第二电感与所述标志物反应结构构成LC谐振器，所述第一电感与所述第二电感对应互感，所述第三模块与所述第一电感相连接并检测谐振特性。

2.如权利要求1所述的标志物检测装置，其特征在于，所述第一电感和所述第二电感正对且间隔设置。

3.如权利要求2所述的标志物检测装置，其特征在于，所述第一电感和所述第二电感之间的间距为0mm～2mm。

4.如权利要求1所述的标志物检测装置，其特征在于，所述第一电感、所述第二电感及所述标志物反应结构的本征谐振频率皆在100KHz～2GHz之间。

5.如权利要求1所述的标志物检测装置，其特征在于，所述标志物反应结构为叉指电容，包覆有与标志物反应的捕获体。

6.如权利要求1所述的标志物检测装置，其特征在于，所述第一模块包括第一基底，所述第一电感设置在所述第一基底的一个面上，且在所述一个面上具有所述第一电感的一端，一导体自与所述一个面相对的另一个面穿过所述第一基底连接至所述第一电感的另一端，所述第一电感的一端与所述导体连接至所述第三模块。

7.如权利要求6所述的标志物检测装置，其特征在于，所述第一基底的厚度为0.8mm～1.6mm，所述第一电感的厚度为35μm～70μm。

8.如权利要求1所述的标志物检测装置，其特征在于，所述第二模块包括第二基底，所述第二电感及标志物反应结构设置在所述第二基底的一个面上。

9.如权利要求8所述的标志物检测装置，其特征在于，所述第二基底的厚度为0.5mm～1mm，所述第二电感及标志物反应结构的厚度为50μm～200μm。

10.如权利要求1所述的标志物检测装置，其特征在于，还包括一壳体，所述壳体具有一开口，所述第一模块设置在所述壳体中，所述第二模块可插拔式插入所述开口中。

11.一种标志物检测方法，其特征在于，采用如权利要求1-10中任意一项所述的标志物检测装置，该方法包括：

提供待检测样品，放置在所述标志物反应结构中进行反应，由第三模块测得具有检测样品时的谐振特性；以及

将具有检测样品的时谐振特性与谐振网络-标志物样本数据库对应，获得待检测样品的标志物浓度。

12.如权利要求11所述的标志物检测方法，其特征在于，所述谐振特性包括阻抗实部带宽，中心频率及谐振峰值。