[发明专利]预测过敏原含量超目标方法与生医电子装置

权利要求书

1.一种预测过敏原含量超目标方法，适用于一生医电子装置，用以预测一物体上的一过敏原是否超标，且其特征在于，该方法包括：

(A)通过一检测试片对该过敏原进行采样；

(B)检测该检测试片上的一目前过敏原浓度、一周围环境的一目前温度与一目前湿度；

(C)于一测试表格的多个测试斜率函数中，选择该目前过敏原浓度对应的其中一个测试斜率函数，并将该目前温度与该目前湿度代入选择的该测试斜率函数以产生一预测斜率，其中每一该测试斜率函数为多个温度与多个湿度的相关函数且是用来预测该目前过敏原浓度何时到达一最高容忍浓度，每一该测试斜率函数与该些温度之间呈现一指数函数递增且每一该测试斜率函数与该些湿度之间成正比；以及

(D)将该最高容忍浓度与该目前过敏原浓度的一差值除以该预测斜率以产生一预测残余时间，其中该预测残余时间代表在该目前温度与该目前湿度下预测该目前过敏原浓度到达该最高容忍浓度的时间。

2.如权利要求1所述的预测过敏原含量超目标方法，其特征在于，于该步骤(A)中，还包括：

对该物体上的该过敏原进行采样或对该物体的该周围环境的该过敏原进行采样。

3.如权利要求1所述的预测过敏原含量超目标方法，其特征在于，于该步骤(B)中，还包括：

于一检测时间区间中多次检测该检测试片以产生多个过敏原浓度；以及

平均该些过敏原浓度以产生该目前过敏原浓度，或选择其中一该过敏原浓度作为该目前过敏原浓度。

4.如权利要求1所述的预测过敏原含量超目标方法，其特征在于，于该步骤(B)中，还包括：

于一检测时间区间中多次检测该周围环境的温度以产生多个环境温度；以及

平均该些环境温度以产生该目前温度，或选择其中一该环境温度作为该目前温度。

5.如权利要求1所述的预测过敏原含量超目标方法，其特征在于，于该步骤(B)中，还包括：

于一检测时间区间中多次检测该周围环境的湿度以产生多个环境湿度；以及

平均该些环境湿度以产生该目前湿度，或选择其中一该环境湿度作为该目前湿度。

6.如权利要求1所述的预测过敏原含量超目标方法，其特征在于，于该步骤(D)后，还包括：

判断该预测残余时间是否小于等于一警告时间；以及

若该预测残余时间小于等于该警告时间，发出一警告信号，且若该预测残余时间大于该警告时间，进入一待机状态。

7.一种预测过敏原含量超目标生医电子装置，用以预测一物体上的一过敏原是否超标，且其特征在于，该电子装置包括：

一载板，设置有一检测试片；

一本体，具有一通孔与一容置空间，该通孔与该容置空间相连通，该载板设置于该容置空间，且该检测试片通过该通孔对该过敏原进行采样；

一传感器模块，设置于该本体内部，检测该检测试片的一目前过敏原浓度、且检测一周围环境的一目前温度与一目前湿度；

一储存组件，设置于该本体内部，储存有一测试表格，其中该测试表格具有预测该目前过敏原浓度何时到达一最高容忍浓度的多个测试斜率函数，每一该测试斜率函数为多个温度与多个湿度的相关函数，每一该测试斜率函数与该温度之间呈现一指数函数递增且每一该测试斜率函数与该湿度之间成正比；以及

一处理器，设置于该本体内部，耦接该传感器模块与该储存组件，接收该目前过敏原浓度、该目前温度与该目前湿度，且于该测试表格的该些测试斜率函数中选择该目前过敏原浓度对应的其中一个测试斜率函数，并将该目前温度与该目前湿度代入选择的该测试斜率函数以产生一预测斜率；

其中，该处理器将该最高容忍浓度与该目前过敏原浓度的一差值除以该预测斜率以产生一预测残余时间，且该预测残余时间代表在该目前温度与该目前湿度下预测该目前过敏原浓度到达该最高容忍浓度的时间。

8.如权利要求7所述的预测过敏原含量超目标生医电子装置，其特征在于，该本体更具有一上表面、一下表面与一侧表面，且该通孔设置在该上表面、该下表面与该侧表面其中之一。

9.如权利要求7所述的预测过敏原含量超目标生医电子装置，其特征在于，该检测试片通过该通孔接触该物体以对该物体上的该过敏原进行采样，或者该检测试片不接触该物体以对该物体的该周围环境的该过敏原进行采样。