[发明专利]测量降膜微通道内液相成膜厚度及流体力学行为方法

权利要求书

1.一种测量降膜微通道内液相成膜厚度及流体力学行为的方法，其特征在于：

利用体视显微镜测量降膜微通道内液膜厚度及流体力学行为的装置，其包括体视显微镜（2）、降膜微反应器（3）、注射泵（4）、蠕动泵（6）、冷却循环泵（5）、恒温槽 （7）和数据采集与处理器（1），其中体视显微镜（2）与数据采集与处理器（1）连接；所述显微镜（2）为体视显微镜，显微镜的最大分辨率为0.1μm~20μm，最大放大倍率20×~2000×，光学变倍范围0.5×~40×；

步骤如下：步骤1，将降膜微反应器（3）固定在体视显微镜载物台上，调整显微镜头为水平状态，使光路垂直照射降膜微通道；步骤2，开启显微镜（2），对空白通道进行扫描成像，记录通道二维坐标信息，通道深度记为，以此作为液膜厚度测量基线；步骤3，开启注射泵（4），对测试系统进行进料，同时开启蠕动泵（6），控制降膜微反应器底部出口液相液位；步骤4，待微通道内液相达到稳定后，再次采用显微镜（2）对有膜通道进行扫描成像，记录通道坐标信息，此时降膜通道深度记为；步骤5，表观液膜厚度为两次测量纵坐标差值，即；

所述步骤5所述表观液膜厚度值并非实际液膜厚度，这是由于测量光路在液膜表面发生折射现象造成的，因此需对其进行修正，所采用的公式为：

式中，是降膜介质折射率，是实际液膜厚度值，是表观液膜厚度值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述体视显微镜（2）传感器类型为CMOS 或CCD，光源为LED光源或其他可照明光源。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述降膜微反应器（3）微通道宽0.1mm~10mm，深0.1mm~3mm。