[发明专利]一种塑封器件分层缺陷检测方法

说明书

本发明公开了一种塑封器件分层缺陷检测方法在原有塑封器件批量超声检测前增加塑封器件采购后的预处理程序，用于去除塑封器件内部吸收水分，并通过超声扫描检测图像前后对比确定是否为吸湿塑封器件，进而通过分层缺陷变化的时间来确定每次可声扫器件只数，将塑封器件进行分批声扫，该方法可以在保证检测准确率的同时提高检测效率。

技术领域

本发明涉及电子元器件缺陷检测领域，特别是指一种塑封器件分层缺陷检测方法。

背景技术

电子元器件中的塑封器件由于具有体积小、重量轻、成本低等优势，近年来广泛应用于航空航天、商用、民用电子产品领域，但受塑封材料及封装工艺限制，在制造过程中部分器件内部出现分层、空洞、裂纹等缺陷，使用过程中这些缺陷可能会诱发元件鼓胀、爆裂等问题致使器件毁损失效。

目前声学扫描显微镜检查技术可以有效的检测塑封器件内部缺陷，其具体原理为：采用超声换能器发出一定频率的超声波，经声学透镜聚焦，由耦合介质传到塑封器件上，由于不同材料的声阻抗不同，超声波在传输时，其反射回波强度因材料不同有所差异。当塑封器件内部存在分层等缺陷时，其内部的空隙会存在空气，由于塑封料与空气界面的反射系数有别于塑封料与其他界面的反射系数，故其反射回波强度也不同，据此筛选出有缺陷的塑封器件。但在实践过程中发现，部分塑封器件由于封装工艺问题，塑封料与引线框架结合不良，使得声学扫描检测时水由引脚根部与塑封料的结合界面快速进入器件内部，填充分层区域，从而使声波导通，导致分层缺陷将无法检测出来，出现漏检问题。这使得受测电子产品的可靠性降低。因此，亟需一种更高准确率的检测方法用于检测塑封器件内部分层缺陷。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种塑封器件分层缺陷检测方法，实现对快速吸湿塑封器件分层缺陷的检测，提高检测的准确率和效率。

基于上述目的本发明提供的塑封器件分层缺陷检测方法，包括步骤：

塑封器件干燥预处理；

获得该类型合格塑封器件的声学扫描检测图像；随机抽取多只待检塑封器件置于去离子水中，进行超声扫描；

若所述超声扫描过程中检测到所述待检塑封器件存在分层现象；则记录所述分层现象的位置和面积，并保持所述待检塑封器件继续置于去离子水中，间隔第一预定时间后再次进行超声扫描；若所述待检塑封器件分层现象的位置或面积发生了变化，则判定该批次待检塑封器件为快速吸湿塑封器件；

随机抽取多只待检塑封器件放置在去离子水中进行超声扫描，之后每隔第二预定时间进行一次扫描，得到所述待检塑封器件的分层位置和面积第一次发生变化的时间，为该批次待检塑封器件的进水时间；其中，所述第二预定时间远小于第一预定时间；

在所述进水的时间内，将待测塑封器件分批进行超声检测测试，并剔除塑封分层缺陷器件。

作为一个实施例，所述塑封器件干燥预处理为在温度范围为0℃至35℃，湿度范围为0％至20％的环境下贮存。

作为一个实施例，所述将待测塑封器件分批进行超声检测测试包括：用所述进水时间除以扫描每只塑封器件所需的时间，得到每批可以检测的只数；将待测塑封器件按所述每批可以检测的只数分批，逐批进行超声扫描。

作为一个实施例，所述剔除塑封分层缺陷器件为将所述超声扫描结果与所述合格声学扫描检测图像进行对比，剔除塑封分层有缺陷的塑封器件。

作为一个实施例，所述第一预定时间为10min至15min。

作为一个实施例，所述第一预定时间为10min。

作为一个实施例，所述第二预定时间为1min至1min30s。

作为一个实施例，所述第二预定时间为1min。