[发明专利]一种芯片卡座测试仪

说明书

本发明公开了一种芯片卡座测试仪，其包括：底座（11）、安装在底座上的测试电路、安装在底座上的用以安放待测试芯片卡座（19）的定位槽（13）、设置在定位槽内的可连通待测试芯片卡座与测试电路的探针组（14）、安装在定位槽上方的可上下往返移动的压杆（1）、固定在压杆底端的压板（2）、通过导线（17）与测试电路连接的测试芯片卡（16），所述测试芯片卡可插入待测试芯片卡座内；本发明可以检测SIM和TF卡座管脚之间有无短路、虚焊和开路，测试时只需观察LED灯就可以判别是否为良品，具有通用性强、操作简便、效率高、对操作人员素质要求不高的特点。

技术领域

本发明涉及电子产品测试设备，尤其涉及一种对芯片卡座进行测试的装置。

背景技术

消费电子产品的ID发展越来越薄，在结构设计时有时就需要将SIM卡或TF卡不放在主板上，而单独分开放置，就会有独立的SIM卡和TF卡座。因分离出的SIM卡和TF卡座，在生产制造过程中会出现少量不良品，不良现象主要表现为焊脚短路或开路。这些不良品在生产过程中又没有有效的检测手段来保证品质，组装成品后常常因SIM卡或TF卡座的问题导致功能缺陷，造成成品返工，从而产生极大浪费。

因此有必要提供一种能测试SIM卡和TF卡座的测试装置，让SIM卡和TF卡座在组装前进行测试，保证产品组装的品质，从而保证产品的直通率，提高生产效率。

发明内容

本发明是要解决现有技术的上述问题，提出一种芯片卡座测试仪。

为解决上述技术问题，本发明提出的技术方案是设计一种芯片卡座测试仪，其包括：底座、安装在底座上的测试电路、安装在底座上的用以安放待测试芯片卡座的定位槽、设置在定位槽内的可连通待测试芯片卡座与测试电路的探针组、安装在定位槽上方的可上下往返移动的压杆、固定在压杆底端的压板、通过导线与测试电路连接的测试芯片卡，所述测试芯片卡可插入待测试芯片卡座内。

所述待测试芯片卡座具有设置在卡座内部的可以触接所述测试芯片卡的多个金属弹片、以及伸出卡座外部可焊接在电路板上的多个PIN脚，所述金属弹片与PIN脚一一对应连通，所述PIN脚与所述探针组可对应触接。

所述测试电路具有直流电源模块、选择开关、第一LED灯组、第二LED灯组，所述选择开关将直流电源模块中的直流电源分成第一电源和第二电源并择一送出，第一和第二电源通过所述导线和测试芯片卡连接到待测试芯片卡座上，第一和第二电源向相邻的所述金属弹片交错供电，第一电源连接待测试芯片卡座中一半数量的金属弹片和PIN脚以及第一LED灯组中的LED灯珠，形成多条回路；第二电源连接待测试芯片卡座中另一半数量的金属弹片和PIN脚以及第二LED灯组中的LED灯珠，亦成多条回路。

所述直流电源模块为USB电源插座。

所述待测试芯片卡座为SIM卡座、或TF卡座、或SIM与TF联合卡座；所述测试芯片卡的外形结构采用SIM卡外形结构、和/或TF卡外形结构。

与现有技术相比，本发明可以检测SIM和TF卡座管脚之间有无短路、虚焊和开路，测试时只需观察LED灯就可以判别是否为良品，具有通用性强、操作简便、效率高、对操作人员素质要求不高的特点。

附图说明

图1为测试仪结构示意图；

图2为测试仪电路连接示意图；

图3为测试电路的电路图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明作进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。