[发明专利]基于流程的微波组件自动测试分析系统及方法

权利要求书

1.一种基于流程的微波组件自动测试分析系统，包括计算机、测试仪表，微波组件与测试仪表相连，测试仪表与计算机通讯；其特征在于：计算机是利用Agilent IO Libraries虚拟测试仪器和测试环境的计算机，包括用户授权模块、仪器初始化模块、自动化流程配置模块、自动化测试模块、数据存储模块、操作日志记录模块、数据查询分析模块。

2.根据权利要求1所述的基于流程的微波组件自动测试分析系统，其特征在于：测试仪表包括辅助测试仪表和指标测量仪表，测试仪表包括输入设备信号源，输出设备频谱仪，功率计，失网，噪声仪，示波器。

3.一种基于流程的微波组件自动测试分析方法，包括如下步骤：

（1）用户授权

测试人员通过指定的账号密码登入测试系统；

（2）仪器初始化

利用Agilent IO Libraries虚拟化测试环境，同时预置需要涉及到的测试仪表，将测试仪表的名称，规格，型号，参数及测试方法初始化；

（3）自动化流程配置

将需要测试的组件模块的测试指标流程化配置，产生配置列表，配置列表保存后可移植及后期修改，配置列表中的配置流程包括输入参数：起始频率、终止频率以及采集点数，输出参数包括频谱仪的最大值、功率计的脉冲功率以及示波器的值，配置流程可实现暂停功能；

（4）自动化测试

加载已经定义好的配置流程，然后往计算机中输入组件编号，虚拟仪器模块载入相应的解析库并对流程参数进行解析，然后连接测试组件，将采集到的该组件的信息发送给计算机；测试数据保存在计算机的内存中；计算机中输入要生成的Excel 名称，将内存中的测试数据取出并存储在已经定义好的Excel文件模板中，同时将测试数据保存到数据库中；

（5）操作日志记录

记录用户的登入登出系统的时间，记录用户进行了哪些操作，测试了哪些组件模块；

（6）数据查询分析

选择Excel名称，载入已经测试完成的配置流程的测试数据，对数据进行统计分析。