[发明专利]一种相位测量方法及相位测量装置

权利要求书

1.一种相位测量方法，其特征在于，所述方法包括：

通过设置有至少两路整形电路的整形模块对被测源的信号进行整形；

轮询各路被测源经过整形后的输出信号，并通过所述输出信号上升沿或下降沿的变化触发选择有效的整形电路的输出信号作为被测源信号；

计算所述被测源信号对应的频率值，并输出所述被测源信号对应的1PPS信号；

选择一路被测源信号对应的1PPS信号作为主对比源，将其余被测源信号对应的1PPS信号分别与所述主对比源比较得出相位差。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过设置有至少两路整形电路的整形模块对被测源的信号进行整形包括:

所述整形模块包括100mV-500mV整形电路、500mV-5V整形电路及5-12V整形电路，通过其中一路整形电路将所述被测源的负电压与大于第一阈值的电压滤除；

所述轮询各路被测源经过整形后的输出信号由FPGA执行，所述第一阈值小于或等于所述FPGA的最大耐压值。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述通过设置有至少两路整形电路的整形模块对被测源的信号进行整形之前，所述方法还包括:

在所述整形电路的输入端检测被测源的信号在预设时间段内的电压是否符合所述FPGA的输入I/O类型的电压范围，当符合时打开所述整形电路的通路，否则关闭所述整形电路的通路。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算所述被测源信号对应的频率值包括：

将参考源信号分频得出闸门时间对应的信号，所述闸门时间设置为1PPS；

依据所述闸门时间计算所述被测源信号的重复变化次数，所述重复变化次数即为所述被测源信号对应的频率值，其中，所述被测源信号与参考源信号符合采样定律。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过图表的形式显示所述相位差。

6.一种相位测量装置，其特征在于，所述装置包括：

整形单元，用于通过设置有至少两路整形电路的整形模块对被测源的信号进行整形；

被测源信号选择单元，用于轮询各路被测源经过整形后的输出信号，并通过所述输出信号上升沿或下降沿的变化触发选择有效的整形电路的输出信号作为被测源信号；

频率计算单元，用于计算所述被测源信号对应的频率值，并输出所述被测源信号对应的1PPS信号；

相位比较单元，用于选择一路被测源信号对应的1PPS信号作为主对比源，将其余被测源信号对应的1PPS信号分别与所述主对比源比较得出相位差。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述整形模块包括100mV-500mV整形电路、500mV-5V整形电路及5-12V整形电路；所述整形单元具体用于：

通过其中一路整形电路将所述被测源的负电压与大于第一阈值的电压滤除；

所述轮询各路被测源经过整形后的输出信号由FPGA执行，所述第一阈值小于或等于所述FPGA的最大耐压值。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

整形电路选择单元，用于在所述整形电路的输入端检测被测源的信号在预设时间段内的电压是否符合所述FPGA的输入I/O类型的电压范围，当符合时打开所述整形电路的通路，否则关闭所述整形电路的通路。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述频率计算单元具体用于：

将参考源信号分频得出闸门时间对应的信号，所述闸门时间设置为1PPS；

依据所述闸门时间计算所述被测源信号的重复变化次数，所述重复变化次数即为所述被测源信号对应的频率值，其中，所述被测源信号与参考源信号符合采样定律。

10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

相位差显示单元，通过图表的形式显示所述相位差。