[发明专利]一种LCD白点Mura缺陷与Cell异物晕开缺陷判别方法

权利要求书

1.一种LCD白点Mura缺陷与Cell异物晕开缺陷判别方法，其特征在于，包括：

对流水线进入的LCD面板进行所有检测画面的缺陷检测后，针对在L48画面初步判定为亮点类缺陷的LCD面板，排除判定LCD面板中由于灰尘干扰导致误判的LCD缺陷；

对存在CELL异物晕开或白点Mura或者亮点缺陷的面板依次进行Black画面以及ParticleDown画面的复判，确定该面板的最终所属缺陷；

Black画面复判的具体过程是：L48画面所判定的亮点逐个在Black画面复判，并根据亮点对比度选择执行：

若缺陷所在Black画面位置存在亮点，且该缺陷在L48画面对比度大于典型白点Mura的对比度的1/2，典型值域在[5.0,9.5],且缺陷面积大于典型白点Mura的面积，典型值域在[50,200]，则该缺陷判定为CELL异物晕开，否则，该缺陷判定为亮点；

若Black画面不存在亮点，该缺陷从L48画面缺陷的面积和对比度判断，面积大于典型白点Mura的最小面积，典型值在[50,200],且对比度大于典型白点Mura最小对比度，典型值在[5.0,9.5],则该缺陷判定为白点Mura。

2.根据权利要求1所述的一种LCD白点Mura缺陷与Cell异物晕开缺陷判别方法，其特征在于，对流水线进入的面板进行所有待检测画面的缺陷检测时，待检测的画面至少包含L48、ParticleDown、Particle、Black。

3.根据权利要求1所述的一种LCD白点Mura缺陷与Cell异物晕开缺陷判别方法，其特征在于，面板灰尘干扰的确定是在Particle检测画面中进行，具体是将判定有缺陷的LCD面板中检测的缺陷逐个在Particle画面复判，滤除判定为灰尘的缺陷。

4.根据权利要求3所述的一种LCD白点Mura缺陷与Cell异物晕开缺陷判别方法，其特征在于，Particle画面复判的具体过程是：将屏幕背光关闭，屏幕处于全黑状态，打开在屏幕侧上方位置布置的条形低测光，判断缺陷所在particle画面是否发亮，若发亮，则判定为有灰尘引起的误检测。

5.根据权利要求1所述的一种LCD白点Mura缺陷与Cell异物晕开缺陷判别方法，其特征在于，Black画面复判是依Black画面同位置发亮的面积，对比度，形状特征，复判确定每个缺陷是Cell异物晕开、或者白点Mura，或者确是亮点。

6.根据权利要求1所述的一种LCD白点Mura缺陷与Cell异物晕开缺陷判别方法，其特征在于，ParticleDown画面的复判是针对经过Black画面复判后判定为LCD面板中亮点类和白点Mura类缺陷，依ParticleDown画面同位置发亮的面积，对比度，形状特征，确定亮点类和白点Mura类缺陷的LCD面板中是否还存在CELL异物晕开缺陷。

7.根据权利要求1所述的一种LCD白点Mura缺陷与Cell异物晕开缺陷判别方法，其特征在于，ParticleDown画面的复判的具体过程是：亮点类和白点Mura类缺陷的LCD面板进入ParticleDown画面，如果白点Mura或者亮点缺陷所在ParticleDown画面存在漏光，则判定为Cell异物晕开缺陷。

8.一种LCD白点Mura缺陷与Cell异物晕开缺陷判别装置，其特征在于，包括一个处理器，该处理器存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时能够实现权利要求1至7任一权利要求所述的方法。