[发明专利]一种DAC误差测量方法及装置

权利要求书

1.一种DAC误差测量装置，其特征在于，包括：

ADC，用于对所述ADC的测量输入进行数字化，生成数字输出，所述数字输出作为测量选择模块的输入，其中，所述ADC包括反馈DAC，所述测量输入包括固定频率的方波信号、固定逻辑电平的直流信号和所述反馈DAC的模拟输出；

所述测量选择模块，用于根据所述数字输出，为所述反馈DAC提供输入，其中，所述测量选择模块，用于向被单独选择的源单元提供所述数字输出中的测量数字，向剩余源单元提供所述数字输出中的剩余数字，所述测量数字为可翻转数字，所述剩余数字为不翻转数字；

所述反馈DAC，根据所述测量选择模块提供的输入，向所述ADC提供所述模拟输出；

所述测量模块，用于根据所述数字输出，测量所述数字输出的幅值。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述ADC包括环路滤波器和量化器，所述环路滤波器的输出与所述量化器的输入耦合；

所述环路滤波器为所述量化器提供低增益输入，所述量化器将所述低增益输入转化为P路数字作为所述数字输出，其中，所述P路数字中仅一路数字为翻转数字，所述翻转数字在0和1之间翻转，所述翻转数字作为所述测量数字。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述装置还包括控制模块；

所述控制模块，还用于向所述ADC提供切换使能信号，所述切换使能信号用于控制所述环路滤波器为所述量化器提供低增益输入；

所述ADC，还用于根据所述控制模块提供的所述切换使能信号，切换所述环路滤波器的上电阶数和/或元件系数，以使所述环路滤波器为所述量化器提供低增益输入。

4.根据权利要求2或3所述的装置，其特征在于，所述量化器的位数为n，所述数字输出为温度计码，所述P路数字包括2ⁿ路数字；或者，所述数字输出为二进制码，所述P路数字包括n路数字。

5.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述反馈DAC包括P个源单元；

所述控制模块，为所述测量选择模块提供测量选择信号，所述测量选择信号指示所述被单独选择的源单元；

所述测量选择模块，根据所述测量选择信号，将所述P路数字与所述P个源单元的导通电连接关系整体错位调整，以将所述测量数字提供给所述被单独选择的源单元，并按照错位后的导通电连接关系，将剩余的P-1路数字提供给除所述被单独选择的源单元之外的P-1个源单元。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，

所述控制模块，用于为所述测量选择模块先后提供P个所述测量选择信号，所述P个测量选择信号指示的所述被单独选择的源单元互不相同；

所述测量选择模块，用于接收所述控制模块先后提供的所述P个测量选择信号，每接收一个所述测量选择信号，将所述P路数字与所述P个源单元的导通电连接关系再整体错位调整一次，直至所述P个源单元轮流被单独选择接收所述测量数字。

7.根据权利要求2、3、5、6中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括数字滤波电路，所述量化器的输出与所述数字滤波电路的输入耦合，所述数字滤波电路的输出与所述测量电路的输入耦合；

所述数字滤波电路，用于将所述数字输出的高频部分滤除，为所述测量模块提供被滤除高频部分之后的所述数字输出；

所述测量模块，用于测量被滤除高频部分之后的所述数字输出的幅值。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述反馈DAC包括P个源单元；所述装置还包括误差计算模块，所述误差计算模块与所述测量模块连接；

所述误差计算模块，用于从所述测量模块获取所述P个源单元分别被测量时所述测量模块测量的所述幅值；根据获取的所述幅值，确定所述P个源单元的幅值均值；

根据所述幅值均值，确定所述P个源单元中每个所述源单元的匹配误差。