[发明专利]磁盘分析方法、装置及计算机可读存储介质

说明书

本发明实施例提供一种磁盘分析方法、装置及计算机可读存储介质，涉及磁盘技术领域。所述磁盘分析方法包括：获得磁盘的多项异常分析信息；根据所述多项异常分析信息计算得到所述磁盘的修复指数；判断所述修复指数所属阈值区间，基于所述修复指数所属阈值区间分析得到所述磁盘运行情况和对应的处理操作。使用该磁盘分析方法、装置及计算机可读存储介质，能够对磁盘的运行情况进行综合分析并根据不同的分析结果执行对应的操作。

技术领域

本发明涉及磁盘技术领域，具体而言，涉及一种磁盘分析方法、装置及计算机可读存储介质。

背景技术

磁盘正常运行是确保数据存储可靠性的重要条件，因而，对磁盘运行情况进行分析十分重要，经发明人研究发现，目前的磁盘运行情况分析手段较为单一，适用性有待提高。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种磁盘分析方法、装置及计算机可读存储介质。

第一方面，本发明实施例提供了一种磁盘分析方法，包括：

获得磁盘的多项异常分析信息；

根据所述多项异常分析信息计算得到所述磁盘的修复指数；

判断所述修复指数所属阈值区间，基于所述修复指数所属阈值区间分析得到所述磁盘运行情况和对应的处理操作。

可选地，所述磁盘的多项异常分析信息包括SMART指数、读写健康指数和读写错误指数，所述修复指数根据所述SMART指数、读写健康指数和读写错误指数计算得到。

可选地，获得所述SMART指数的步骤包括：

将所述磁盘的SMART相关信息对应的值与预设的故障参考阈值和故障确认阈值进行比对；

若所述SMART相关信息中存在对应的值大于所述故障确认阈值的信息，将所述SMART指数设定为第一数值；

若所述SMART相关信息中存在大于所述故障参考阈值并小于所述故障确认阈值的信息，且所述SMART相关信息中不存在对应的值大于所述故障确认阈值的信息，将所述SMART指数设定为第二数值；

若所述SMART相关信息中的各信息对应的值均小于所述故障参考阈值，将所述SMART指数设定为第三数值；

其中，所述第一数值大于所述第二数值，所述第二数值大于所述第三数值。

可选地，所述SMART相关信息包括磁盘读错误信息、磁盘重分配扇区信息和磁盘挂起扇区信息，所述SMART相关信息对应的值包括磁盘读错误率、磁盘重分配扇区比例和磁盘挂起扇区比例。

可选地，所述读写健康指数通过以下步骤获得：

获得所述磁盘读写超时的信息和读写超时次数；

根据以下公式计算得到所述读写健康指数，读写健康指数＝t+n，其中，t用于标识是否出现读写超时，若出现读写超时，所述t的值为第四数值；n为读写超时次数；

在所述t的值为第四数值时，持续获得所述磁盘读写超时的信息，若再次得到所述磁盘读写超时的信息，将所述t的值保持为所述第四数值，并将n的值加1，若在预设时长内未得到所述磁盘读写超时的信息，将所述t的值修改为第五数值。

可选地，所述读写错误指数通过以下步骤获得：

检测所述磁盘的读写错误个数；

根据以下公式计算得到所述读写错误指数，读写错误指数＝e+m，其中，e用于标识读写错误个数是否达到设定阈值，若达到所述设定阈值，所述e的值为第六数值，若未达到所述设定阈值，所述e的值为第七数值；m为所述读写错误个数达到所述设定阈值的次数；