[发明专利]一种背景噪声的提取方法及提取系统

权利要求书

1.一种背景噪声的提取方法，其特征在于，所述提取方法包括：

获取电平样本数据集，所述电平样本数据集包括多个样本点，所述样本点分为信号点和噪声点；

确定多个样本子集，所述样本子集包括N个所述电平样本数据集中连续的样本点，所述样本子集中的第一个样本点为待测点；相邻两个所述样本子集包括不同的样本点；

根据最小二乘法确定各所述样本子集的拟合曲线；

根据所述拟合曲线确定各待测点的斜率特征值；

根据各所述斜率特征值确定多个开始点和多个结束点，所述开始点的斜率特征值大于等于T，位于所述开始点之前距离所述开始点最近的待测点的斜率特征值小于T，所述结束点的斜率特征值大于-T，位于所述结束点之前距离所述结束点最近的待测点的斜率特征值小于等于-T，所述之前是指待测点的时间顺序，T为设定阈值；

确定所述电平样本数据集中处于第一信号点和第二信号点的之间所有的样本点为第三信号点，所述第一信号点为开始点，所述第二信号点为结束点，所述第一信号点位于所述第二信号点之前，所述第一信号点是距离所述第二信号点最近的开始点；

将所述第三信号点的电平数值替换为相邻噪声样本点的电平数值，所述相邻噪声样本点为距离所述第一信号点或所述第二信号点最近的噪声点。

2.根据权利要求1所述的提取方法，其特征在于，在所述确定多个样本子集之前，还包括：

获取频域业务信号中的最窄信号带宽和分辨率带宽；

根据所述最窄信号带宽和分辨率带宽确定拟合点数的最大值N_max；

确定所述拟合点数N，其中，3NN_max。

3.根据权利要求2所述的提取方法，其特征在于，所述根据所述最窄信号带宽和分辨率带宽确定拟合点数的最大值N_max，具体为：

根据公式N_max＝BW_min/(2×RBW)确定拟合点数的最大值N_max；

其中，BW_min为最窄信号带宽，RBW为分辨率带宽。

4.根据权利要求1所述的提取方法，其特征在于，在所述将所述第三信号点的电平数值替换为相邻噪声点的电平数值之后，还包括：

计算相邻两个样本点的电平差值；

判断所述电平差值的绝对值是否大于5，得到第一判断结果；

当所述第一判断结果表示相邻两个样本点的电平差值的绝对值大于5时，将数值较大的样本点的值替换为数值较小的样本点的值。

5.根据权利要求1所述的提取方法，其特征在于，在获取待测电平样本数据集之后，还包括：

将所述电平样本数据集的第一个样本点的电平数值替换为距离第一样本点最近的噪声点的电平数值。

6.根据权利要求1所述的提取方法，其特征在于，所述根据所述拟合曲线确定各待测点的斜率特征值，具体包括：

根据公式：确定待测点在所述拟合曲线处的斜率特征值；

其中，K_p为第p个样本子集的待测点的斜率特征值，(x_n，y_n)为所述样本子集中的第n个样本点，x_n＝n，y_n为第n个样本点的电平数值。

7.根据权利要求2所述的提取方法，其特征在于，5≤N≤9。

8.根据权利要求7所述的提取方法，其特征在于，N为6。

9.根据权利要求1所述的提取方法，其特征在于，T为0.3。

10.一种背景噪声的提取系统，其特征在于，所述提取系统包括：

电平样本数据集获取模块，用于获取待测电平样本数据集，所述电平样本数据集包括多个样本点，所述样本点分为信号点和噪声点；

样本子集确定模块，用于确定多个样本子集，所述样本子集包括N个所述电平样本数据集中连续的样本点，所述样本子集中的第一个样本点为待测点；相邻两个所述样本子集包括不同的样本点；

拟合曲线确定模块，用于根据最小二乘法确定各所述样本子集的拟合曲线；

斜率特征值确定模块，用于根据所述拟合曲线确定各待测点的斜率特征值；

开始点和结束点确定模块，用于根据各所述斜率特征值确定多个开始点和多个结束点，所述开始点的斜率特征值大于等于T，位于所述开始点之前距离所述开始点最近的待测点的斜率特征值小于T，所述结束点的斜率特征值大于-T，位于所述结束点之前距离所述结束点最近的待测点的斜率特征值小于等于-T，所述之前是指待测点的时间顺序，T为设定阈值；

信号点确定模块，用于确定所述电平样本数据集中处于第一信号点和第二信号点的之间所有的样本点为第三信号点，所述第一信号点为开始点，所述第二信号点为结束点，所述第一信号点位于所述第二信号点之前，所述第一信号点是距离所述第二信号点最近的开始点；

替换模块，用于将所述第三信号点的电平数值替换为相邻噪声样本点的电平数值，所述相邻噪声样本点为距离所述第一信号点或所述第二信号点最近的噪声点。