[发明专利]一种光纤宏弯损耗测试工装及其测试方法

说明书

本发明公开了一种光纤宏弯损耗测试工装及其测试方法，属于光纤测试领域。所述光纤宏弯损耗测试工装，包括多个测试组件，所述多个测试组件的每个包括传动机构、光纤绕柱，所述多个测试组件中的多个光纤绕柱具有不同的直径，所述传动机构用于带动所述光纤绕柱移动。本发明实现了对光纤持续进行不同弯曲半径的宏弯损耗测试，并且结构简单，操作方便，效率高，可广泛应用于光纤测试领域。

技术领域

本发明涉及光纤测试领域，特别涉及一种光纤宏弯损耗测试工装及其测试方法。

背景技术

光纤的弯曲会导致光纤的衰减增加，影响光纤的传输性能。G.657光纤是一种弯曲损耗不敏感光纤，由于其优异的抗弯曲性能，被大量的应用在FTTH中。随着近年来FTTH的加速发展，市场对G.657光纤的需求量也不断的增加，因此，对于光纤厂商来说，提升G.657光纤产量，迅速精确的测试其宏弯损耗，就尤为重要。

根据ITU-T相关标准，G.657光纤需保证在15mm、10mm、7.5mm等不同弯曲半径的情况下的附加衰减，因此，光纤出厂之前，需进行不同弯曲半径下的附加衰减的测试，即宏弯损耗的测试。

由于测试光纤宏弯损耗时，光纤的两端需分别与光功率计的收、发端耦合固定，目前公开的专利文献中各种关于光纤宏弯损耗测试工装的信息，均无法实现连续测试不同弯曲半径的宏弯损耗。如专利CN20424118U(一种光纤的宏弯损耗测试工装)，可以在光纤单端固定的情况下进行绕纤，当测试完一种弯曲半径的宏弯损耗后，光纤双端固定，则无法继续在此种情况下将光纤取下并缠绕至另一弯曲半径的圆柱上；又如专利申请CN106956960A(用于光纤宏弯损耗测试的绕纤装置)，其中用于缠绕光纤的光纤圈筒只存在一种圈径，在测试光纤宏弯损耗过程中，需频繁的更换光纤圈筒，以测试不同弯曲半径的宏弯损耗。

发明内容

为了解决现有技术的问题，本发明实施例提供了一种光纤宏弯损耗测试工装及其测试方法。所述技术方案如下：

一方面，提供了一种光纤宏弯损耗测试工装，包括多个测试组件，所述多个测试组件的每个包括传动机构、光纤绕柱，所述多个测试组件中的多个光纤绕柱具有不同的直径，所述传动机构用于带动所述光纤绕柱移动。

优选地，所述多个测试组件的每个还包括限位装置，所述限位装置用于限定所述光纤绕柱的位置。

优选地，所述传动机构包括主动轮、与所述主动轮连接的转动手柄、从动轮、传送带以及设于所述传送带环形包围腔内、与所述传送带平行排列的挡板，所述传送带与所述挡板之间安置所述光纤绕柱的绕柱底座，所述绕柱底座的外表面与所述传送带啮合，所述绕柱底座位于所述光纤绕柱的底部；所述限位装置为限位块，所述限位块位于远离所述光纤绕柱的一端。

优选地，所述多个测试组件的多个传送带平行排列。

优选地，所述光纤绕柱上设有多段螺纹。

优选地，所述光纤绕柱顶部设有夹紧装置，用于固定所述光纤绕柱上缠绕的光纤，所述夹紧装置包括夹紧块。

优选地，所述测试工装还包括箱体，所述箱体具有一底座，在所述箱体表面开设有多个U型槽，用于安置所述多个光纤绕柱。

另一方面，提供了上述方案中光纤宏弯损耗测试工装的测试方法，所述测试方法包括以下步骤：

将多个待测光纤的两端连接光功率计，然后将光纤的其余部分平铺，将光纤的对折尾部分别安置在每个测试组件的光纤绕柱上；

启动每个测试组件的传动机构，带动光纤绕柱移动，直至光纤绕柱到达预定位置，利用每个测试组件的限位装置限定光纤绕柱的位置；

进行测试，测试完毕反向操作每个测试组件的传动机构，将每个光纤从光纤绕柱上取下。

优选地，所述测试方法包括以下步骤：