[发明专利]芯片单粒子辐照测试方法、装置、系统及数据库建立方法

说明书

本发明公开了一种芯片单粒子辐照测试方法、装置、系统及数据库建立方法，属于辐照测试技术领域。所述单粒子辐照测试方法，包括：获取测试指令，并根据所述测试指令中包含的测试向量压缩文件标识，从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件；对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，确定测试向量和测试向量对应的输出标准值；根据确定的所述测试向量，以驱动待测芯片，使所述待测芯片输出测试向量对应的实际输出值；将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较，作为待测芯片的单粒子辐照测试结果。该方法能够覆盖所有芯片的辐照试验测试，通用性高。

技术领域

本发明属于辐照测试技术领域，特别是涉及一种芯片单粒子辐照测试方法、装置及系统。

背景技术

来自外空间的宇宙射线的辐照会严重影响在外空间运行的各类航天器的电子器件，进而威胁航天器的在轨运行安全。因为辐射导致的单粒子翻转等效应，使得航天器上存储器的内容可能出现小概率错误，这种错误会影响系统的运行。一旦系统运行崩溃，各方面带来的损失无从估量。为了模拟外空间的环境，在地面上用加速器产生的重离子流轰击待测芯片，形成单粒子翻转等效应进行相关的测试评估与分析。

在商业芯片的测试中，存在大量的各类型号的自动测试机台，但在辐照测试中不可能将其搬进实验室。目前的辐照实验系统一般通过线缆连接试验室与监控室，完成对待测芯片控制工作。但是线缆太多既不安全也不易维护，且容易损坏，为问题的定位带来难度。

待测芯片千千万，不同芯片的属性功能各不相同，如果测试系统在测试一款新芯片时仍旧需要大量的人力开发投入，那系统的可重用性必将大打折扣，既降低了可靠性，又造成了开发浪费。

现有技术中专利号为201310724722.7公开了一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法，专利号为201410706041.2公开了一种基于JTAG接口的单粒子辐照试验测试系统及方法，其中都包含有测试FPGA阵列，但上述测试系统不能测试功能芯片，复杂功能芯片会涉及到软件开发功能设置及各种协议拓扑结构等等，而FPGA只需要配置码流，由于测试对象是各色各样的芯片，小到74系列逻辑芯片，大到8位或32位微控制器芯片，或者是处理器芯片，当需要测试不同的功能芯片时，现有技术不能兼并测试，只能针对特定的芯片进行测试，即一种单粒子辐照试验测试系统只能检测一种芯片，其通用性差。

发明内容

本发明的目的在于提供一种通用化的芯片单粒子辐照测试方法、装置及系统，能够覆盖所有芯片的辐照试验测试，通用性高。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种芯片单粒子辐照测试方法，在测试控制端执行，包括：

获取测试指令，并根据所述测试指令中包含的测试向量压缩文件标识，从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件；

对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，确定测试向量和测试向量对应的输出标准值；

根据确定的所述测试向量，以驱动待测芯片，使所述待测芯片输出测试向量对应的实际输出值；

将所述测试向量对应的输出标准值与实际输出值进行比较，确定待测芯片的单粒子辐照测试结果。

在一可选实施例中，所述测试指令中包含至少两组测试向量压缩文件标识；

所述从测试向量压缩文件数据库中提取对应的测试向量压缩文件，包括：分别从测试向量压缩文件数据库中提取所述至少两组测试向量压缩文件标识对应的至少两组测试向量压缩文件；

所述对提取的所述测试向量压缩文件进行解压缩，包括：对提取的至少两组所述测试向量压缩文件分别进行解压缩。

在一可选实施例中，所述测试向量压缩文件标识包括读数据的首地址和末尾地址。