[发明专利]多通道集成滤光片光隔离结构的制造方法有效

专利信息
申请号: 201810087211.1 申请日: 2018-01-30
公开(公告)号: CN108193171B 公开(公告)日: 2019-11-19
发明(设计)人: 周东平 申请(专利权)人: 苏州晶鼎鑫光电科技有限公司
主分类号: C23C14/24 分类号: C23C14/24;C23C14/18;C23C14/08;C23C14/10;C23C14/02;C23C14/04;G02B5/00;G02B5/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏省苏州市工业园区娄*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 金属膜层 黑铬 光隔离结构 集成滤光片 多通道 腐蚀处理 剩余反射率 消光层 镀制 粗糙 光学透过性能 工作性能 光学薄膜 化学腐蚀 基片表面 使用寿命 有效实现 漫反射 氧化物 制造 隔离
【权利要求书】:

1.一种多通道集成滤光片光隔离结构的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、在基片上设置掩膜层,以使基片上仅有需设置光隔离结构的表面露出;

其中,所述基片选自玻璃、石英、蓝宝石、硫化锌、硒化锌光学材料中的一种;

S2、对基片的露出表面进行化学腐蚀处理,以形成粗糙的腐蚀处理面;

其中,使用氢氟酸溶液或氢氟酸蒸汽对基片的露出表面进行化学腐蚀处理;

S3、取出基片,清洗干净,并除去掩膜层;

S4、使用机械掩膜夹具夹持清洗干净的基片,以使基片上仅有腐蚀处理面露出;

S5、将机械掩膜夹具和基片一起放入镀膜工件载盘,再装入真空镀膜系统;

S6、在腐蚀处理面上镀制黑铬金属膜层;

S7、在黑铬金属膜层上镀制第一氧化铬膜层;

S8、在第一氧化铬膜层上镀制第一二氧化硅膜层;

S9、在第一二氧化硅膜层上镀制第二氧化铬膜层;

S10、在第二氧化铬膜层上镀制第二二氧化硅膜层即得光隔离结构;

其中,所述黑铬金属膜层的厚度为200-500纳米,所述第一氧化铬膜层的厚度为45-50纳米,所述第一二氧化硅膜层的厚度为200-220纳米,所述第二氧化铬膜层的厚度为120-140纳米,所述第二二氧化硅膜层的厚度为85-95纳米。

2.根据权利要求1所述的一种多通道集成滤光片光隔离结构的制造方法,其特征在于,步骤S6至步骤S10中采用精度为1纳米的石英晶体振荡膜层厚度控制仪控制黑铬金属膜层、第一氧化铬膜层、第一二氧化硅膜层、第二氧化铬膜层、第二二氧化硅膜层的厚度。

3.根据权利要求1所述的一种多通道集成滤光片光隔离结构的制造方法,其特征在于,步骤S7至步骤S10中采用氧气离子辅助镀膜工艺辅助镀制第一氧化铬膜层、第一二氧化硅膜层、第二氧化铬膜层、第二二氧化硅膜层。

4.根据权利要求1所述的一种多通道集成滤光片光隔离结构的制造方法,其特征在于,步骤S6的实施温度为室温至100摄氏度,步骤S7至步骤S10的实施温度为150摄氏度至300摄氏度。

5.根据权利要求1所述的一种多通道集成滤光片光隔离结构的制造方法,其特征在于,步骤S6的实施真空压强不大于1x10-3Pa,步骤S7至步骤S10的实施真空压强不大于3x10-2Pa。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州晶鼎鑫光电科技有限公司,未经苏州晶鼎鑫光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810087211.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top