[发明专利]具有相位补偿的磁传感器位置测量有效
申请号: | 201810092366.4 | 申请日: | 2018-01-31 |
公开(公告)号: | CN108375384B | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | A·里查德;P·J·汤吉;J·施密特;M·杜特 | 申请(专利权)人: | 亚德诺半导体集团 |
主分类号: | G01D5/00 | 分类号: | G01D5/00;G01D5/12 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 周阳君 |
地址: | 百慕大群岛(*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 相位 补偿 传感器 位置 测量 | ||
1.一种具有相移补偿的磁传感器系统,所述磁传感器系统包括:
包括磁阻传感元件的多匝传感器,所述多匝传感器被配置为响应于磁场的旋转改变状态以使得所述磁阻传感元件响应于磁性对准状态而具有不同的状态;
角度传感器,被配置为基于磁场相对于所述角度传感器的角度生成输出;和
与所述多匝传感器和所述角度传感器通信的处理电路,所述处理电路被配置为:
基于所述多匝传感器的具有指示当磁场的旋转的一整圈完成时的对应旋转圈数的第一值的输出和所述角度传感器的具有指示磁场的角度与磁场的旋转的一整圈完成对齐的值的输出之间的相对差来确定相移校正,所述相移校正用于校正在磁场的旋转的一部分内的相对差;和
基于所述相移校正、所述角度传感器的输出和所述多匝传感器的输出的组合生成位置信息。
2.根据权利要求1所述的磁传感器系统,还包括被配置为基于所述多匝传感器的输出来输出半匝计数的半匝解码器,并且其中所述处理电路被配置为基于所述半匝计数和所述角度传感器的输出来确定所述相移校正。
3.根据权利要求2所述的磁传感器系统,其中当所述半匝计数是特定的奇偶并且所述角度传感器的输出对应于小于90°的角度时,所述相移校正对应于增加360°,其中所述特定的奇偶是奇数或偶数。
4.根据权利要求3所述的磁传感器系统,其中当所述半匝计数是与所述特定的奇偶相反的奇偶并且所述角度传感器的输出对应于大于270°的角度时,所述相移校正对应于减去360°。
5.根据权利要求1所述的磁传感器系统,其中所述多匝传感器是巨型磁阻传感器。
6.根据权利要求1所述的磁传感器系统,其中所述角度传感器包括各向异性磁阻传感器。
7.根据权利要求1所述的磁传感器系统,其中所述处理电路被配置为响应于确定所述多匝传感器的输出与所述角度传感器的输出充分同相来计算位置信息而不用相移校正。
8.根据权利要求1所述的磁传感器系统,其中所述相移校正对应于位置信息中的360°的调整。
9.根据权利要求1所述的磁传感器系统,其中所述位置信息是在超过360°的范围内的与磁场相关的累积旋转角度。
10.根据权利要求9所述的磁传感器系统,其中所述处理电路被配置为连续地输出位置信息。
11.一种确定与磁场相关的位置信息的方法,该方法包括:
用包括磁阻传感元件的多匝传感器记录在磁场旋转多圈时磁场的圈数;
用角度传感器检测在磁场旋转时磁场相对于角度传感器的角度;
接收与所述多匝传感器相关联的第一信号;
接收与所述角度传感器相关联的第二信号;
基于(i)与所述多匝传感器相关联的指示磁场的圈数中的一整圈完成的第一信号和(ii)与所述角度传感器相关联的指示磁场的角度与一整圈完成对齐的第二信号之间的相对差来生成随着磁场旋转多圈的相移校正信号,所述相移校正信号用于校正在磁场的旋转的一部分内的相对差;和
结合所述第一信号和所述第二信号使用所述相移校正信号来生成磁场的位置的指示。
12.根据权利要求11所述的方法,还包括从所述第一信号解码半匝计数,其中所述生成基于所述半匝计数。
13.根据权利要求11所述的方法,其中所述第一信号代表半匝计数。
14.根据权利要求13所述的方法,其中当所述半匝计数是特定的奇偶并且所述第二信号对应于小于四分之一圈的角度时使用所述相移校正信号使得增加一整圈,其中所述特定的奇偶是奇数或偶数,并且其中当所述半匝计数与所述特定的奇偶相反并且所述第二信号对应于大于四分之三圈的角度时使用所述相移校正信号使得减去一整圈。
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