[发明专利]显示面板画面串扰测试方法

说明书

本发明提供一种显示面板画面串扰测试方法，通过显示面板在Cell制程阶段显示可以实现的画面来测试画面串扰，因此不需要在模组制程阶段将IC和FPC与显示面板邦定后再进行画面串扰测试，测试反馈时间较短，不仅可以提高测试效率，还可以减少IC和FPC等物料的浪费，有利于节约成本。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板画面串扰测试方法。

背景技术

随着显示技术的发展，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛地应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。

现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在薄膜晶体管阵列基板(ThinFilm Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)与彩色滤光片(ColorFilter，CF)基板之间灌入液晶分子，并在两片基板上施加驱动电压来控制液晶分子的旋转方向，以将背光模组的光线折射出来产生画面。

画面串扰(Crosstalk)现象是指显示面板在同时显示两种不同灰阶画面时，不同灰阶画面之间会相互发生干扰。如同时显示黑白两种画面，黑色区域受白色区域影响变得不够黑，白色区域受到黑色区域影响变得不足够白，影响显示品质。Crosstalk产生原因一般可分为驱动原因、材料原因和制程原因。驱动原因和材料原因比较固定，驱动方式和材料在选定后基本不会变化。而制程原因比较难以控制，每批次产品参数都可能不一致，因此因为制程原因引起的TFT漏电流增加、寄生电容的增加等都会引起Crosstalk现象。

如图1所示，为现有的一种显示面板画面串扰测试方法，首先显示面板100显示纯白画面，选取纯白画面中非中间区域的多个测试点101并测试该多个测试点101对应的第一亮度值，接着将显示面板100的中间区域显示纯黑画面，显示面板100除中间区域的四周区域继续显示纯白画面，再次测试多个测试点101对应的第二亮度值，最后计算每个测试点101的第一亮度值与第二亮度值的差值，当多个测试点101中的一个或多个测试点101的第一亮度值与第二亮度值的差值大于一预设的阈值时，则判断该显示面板的画面串扰测试不合格。现有的显示面板在TFT基板与CF基板对组成盒(Cell)制程阶段由于没有邦定IC和FPC，不能将显示面板100中间区域显示为纯黑画面、四周区域显示纯白画面，因此需要在模组制程阶段将集成电路(IC)和柔性电路板(FPC)与显示面板邦定后进行画面串扰测试，测试反馈时间很长，影响问题解决效率，且显示面板的画面串扰测试不合格时，由于已经邦定了IC和FPC，造成了IC和FPC的物料浪费，不利于节约成本。

发明内容

本发明的目的在于提供一种显示面板画面串扰测试方法，能够在显示面板Cell制程阶段测试画面串扰，不仅可以提高测试效率，还可以减少IC和FPC等物料的浪费，有利于节约成本。

为实现上述目的，本发明提供了一种显示面板画面串扰测试方法，包括如下步骤：

步骤S1、提供显示面板，所述显示面板在对组成盒制程阶段与模组制程阶段之间显示第一灰阶画面，所述第一灰阶画面具有至少一个测试点，测试每个测试点分别对应的第一亮度值；

步骤S2、显示面板同时显示第一灰阶画面和第二灰阶画面，测试每个测试点分别对应的第二亮度值；

步骤S3、分别计算每个测试点对应的第一亮度值与第二亮度值的差值，当至少一个测试点对应的第一亮度值与第二亮度值的差值大于一预设的阈值时，则判断显示面板的画面串扰测试不合格；当每个测试点对应的第一亮度值与第二亮度值的差值均小于一预设的阈值时，则判断显示面板的画面串扰测试合格。

所述第一灰阶画面的灰阶为255；所述第二灰阶画面的灰阶为0。