[发明专利]一种玻璃基板缺陷聚集识别方法

说明书

本发明提供一种玻璃基板缺陷聚集识别方法，能够在制造玻璃基板的过程中进行缺陷聚集检测识别，从而及时发现问题，排出故障，以在实际生产中控制玻璃基板质量。识别方法包括：将玻璃基板的检测影像置于一个坐标系中，为玻璃基板上的各缺陷建立缺陷矩形框，各缺陷矩形框为相应缺陷的最小外接矩形；为各缺陷建立包含对应缺陷矩形框的聚集矩形框；当一个缺陷的聚集矩形框与另一个缺陷的缺陷矩形框相切或相交时，判定该两个缺陷相关联；如果相关联的缺陷数等于或大于根据玻璃基板精度要求设定的判定聚集的最小关联缺陷数，则这些缺陷被判定为聚集，否则，不属于聚集。

技术领域

本发明属于玻璃基板缺陷检测识别技术领域，涉及如何检测并识别玻璃基板缺陷是否聚集的技术，更具体地涉及一种玻璃基板缺陷聚集识别方法。

背景技术

使用溢流下拉法生产玻璃基板的过程中，采用成型拉边机、牵引辊和横切划线等热工设备对玻璃基板进行加工，如果其中的某个环节或设备出现问题，会造成串泡、划伤、擦痕和脏污等聚集缺陷，影响产品质量，降低产品合格率。现有技术中对于缺陷聚集基本上都是肉眼查看，肉眼观测缺陷聚集很费时费力，也无法保证精确地观测出缺陷的分布情况，且易造成漏检，增大了量产风险。因此，需要研究一种能够在线自动判定识别缺陷是否聚集的方法，如果发现缺陷聚集则给出提示，以及时排除设备故障，保证产品质量合格。

发明内容

针对现有技术中存在的问题，本发明提供一种玻璃基板缺陷聚集识别方法，能够在制造玻璃基板的过程中进行缺陷聚集检测识别，从而及时发现问题，排出故障，以在实际生产中控制玻璃基板质量，使其符合玻璃基板质量标准。

本发明是通过以下技术方案来实现：

一种玻璃基板缺陷聚集识别方法，包括如下步骤，

步骤1，将玻璃基板的检测影像置于一个坐标系中，为玻璃基板上的各缺陷建立缺陷矩形框，各缺陷矩形框为相应缺陷的最小外接矩形；为各缺陷建立包含对应缺陷矩形框的聚集矩形框，各聚集矩形框通过根据玻璃基板精度要求设定的横向参数和纵向参数表示，横向参数为聚集矩形框与相应缺陷矩形框对应边的横向距离，纵向参数为聚集矩形框与相应缺陷矩形框对应边的纵向距离；

步骤2，判定缺陷是否聚集，当一个缺陷的聚集矩形框与另一个缺陷的缺陷矩形框相切或相交时，判定该两个缺陷相关联；如果相关联的缺陷数等于或大于根据玻璃基板精度要求设定的判定聚集的最小关联缺陷数，则这些缺陷被判定为聚集，否则，不属于聚集。

优选的，横向参数为3-5mm，纵向参数为3-5mm。

优选的，最小关联缺陷数为2-3。

优选的，还包括步骤3，为被判定为聚集的相关联缺陷建立最小外接矩形，根据该最小外接矩形的长宽比及宽度尺寸，判断聚集为面聚集或线聚集。

进一步的，当被判定为聚集的相关联缺陷的最小外接矩形长宽比大于等于m，且宽度小于等于n时，判定为线聚集，其中，m＝2-3，n＝0.2-1mm。

进一步的，当被判定为聚集的相关联缺陷的最小外接矩形长宽比小于m，或宽度大于n时，判定为面聚集，其中，m＝2-3，n＝0.2-1mm。

与现有技术相比，本发明具有以下有益的技术效果：