[发明专利]精密测量板卡

权利要求书

1.一种精密测量板卡，其特征在于，包括集成在一块板卡上的高速高精度精密测量模块、高精度时间测量模块、数字信号处理模块、精密电压源输出模块、通讯电路和FPGA，所述高速高精度精密测量模块与所述FPGA连接、用于精密测量被测电路的电压参数，所述高精度时间测量模块与所述FPGA连接、用于对电子器件的时间参数进行精密测量，所述高精度时间测量模块包括信号调理电路、波形整形电路和TDC时间测量芯片，所述信号调理电路的输入端连接所述被测电路的被测量端、用于接收所述被测电路传入的波形触发信号，所述波形整形电路的输入端与所述信号调理电路的输出端连接、用于将所述波形触发信号整形形成脉冲沿，所述TDC时间测量芯片的输入端与所述波形整形电路的输出端连接、用于采用TDC数字测量方法对电子器件的时间参数进行精密测量，所述TDC时间测量芯片的输出端与所述FPGA连接，所述数字信号处理模块与所述FPGA连接，所述精密电压源输出模块与所述FPGA连接、用于为所述被测电路提供电压输出，所述通讯电路与所述FPGA连接。

2.根据权利要求1所述的精密测量板卡，其特征在于，对于微秒级时间间隔的测量，所述TDC时间测量芯片采用数字插入法的延迟插入法进行测量，所述TDC时间测量芯片内置锁相环和门电路。

3.根据权利要求2所述的精密测量板卡，其特征在于，所述门电路为反相器。

4.根据权利要求1所述的精密测量板卡，其特征在于，对于毫秒级时间间隔的测量，所述TDC时间测量芯片采用数字脉冲计数法对所述电子器件的时间参数进行测量。

5.根据权利要求1至4任意一项所述的精密测量板卡，其特征在于，所述精密电压源输出模块包括高精度DAC、第一档位切换电路和驱动电路，所述高精度DAC的输入端与所述FPGA连接，所述第一档位切换电路的输入端与所述高精度DAC连接、用于进行电压激励档位的切换，所述驱动电路的输入端与所述第一档位切换电路的输出端连接、用于提供电压输出。

6.根据权利要求1至4任意一项所述的精密测量板卡，其特征在于，所述高速高精度精密测量模块包括信号输入电路、第二档位切换电路和高精度ADC，所述信号输入电路的输入端与所述被测电路的被测量端连接、用于输入信号，所述第二档位切换电路的输入端与所述信号输入电路的输出端连接、用于进行测量档位的切换，所述高精度ADC的输入端与所述第二档位切换电路的输出端连接、用于精密测量所述被测电路的电压参数，所述高精度ADC的输出端与所述FPGA连接。