[发明专利]基带芯片性能的测试方法和装置

说明书

本发明提供一种基带芯片性能的测试方法和装置，该方法包括：在待测试基带芯片追踪到预设卫星时，采集预设时间段内待测试基带芯片的工作电压值和工作电流值以及待测试基带芯片输出的位置信息，位置信息为船舶按照预设航线在预设时间段内行驶时待测试基带芯片输出的不同时刻的船舶的位置坐标信息；根据待测试基带芯片的工作电压值和工作电流值，获取待测试基带芯片的功耗；根据位置信息和预设航线中的位置信息，获取待测试基带芯片的定位精度。本发明在获取基带芯片正常追踪卫星时的功耗及定位性能，为实际应用中基带芯片的选择提供了依据。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种基带芯片性能的测试方法和装置。

背景技术

由于航海环境的特殊性，船载的导航设备相对普通环境下的导航设备，在可靠性、防震、防潮、防高温及防光直射等方面有更高的要求，因此，船载设备都需要经过统一、严格的测试，采用国际统一的衡量标准并达到所要求的测试结果方可安装上船。

船载导航设备的主要组成部分为基带芯片，其功耗的大小影响着导航设备的使用时长，进而影响整个船舶的导航性能，此外，基带芯片的定位精度直接影响着船舶的作业。船舶在海上作业时间长，更需要基带芯片在能够达到一定定位精度的情况下，具有更小的功耗。因此，在基带芯片使用前需要对其进行功耗及定位性能的测试。但现有技术中对于基带芯片整板功耗和定位性能的测试方法鲜有披露。

发明内容

本发明提供一种基带芯片性能的测试方法和装置，在获取基带芯片正常追踪卫星时的功耗及定位性能，为实际应用中基带芯片的选择提供了依据。

本发明的第一方面提供一种基带芯片性能的测试方法，待测试基带芯片设置于测试板上，所述测试板设置于船舶上；所述方法包括：

在所述待测试基带芯片追踪到预设卫星时，采集预设时间段内所述待测试基带芯片的工作电压值和工作电流值以及所述待测试基带芯片输出的位置信息，所述位置信息为所述船舶按照预设航线在所述预设时间段内行驶时所述待测试基带芯片输出的不同时刻的所述船舶的位置坐标信息；

根据所述待测试基带芯片的所述工作电压值和工作电流值，获取所述待测试基带芯片的功耗；

根据所述位置信息和所述预设航线中的位置信息，获取所述待测试基带芯片的定位精度。

可选的，所述采集预设时间段内所述待测试基带芯片的工作电压值和工作电流值，包括：

采集所述待测试基带芯片在所述预设时间段内的多个瞬时工作电压值和各所述瞬时工作电压值对应的工作电流值；

根据所述待测试基带芯片的所述工作电压值和工作电流值，获取所述待测试基带芯片的功耗，包括：

根据所述待测试基带芯片的多个瞬时工作电压值和各所述瞬时工作电压值对应的工作电流值，获取所述待测试基带芯片的功耗。

可选的，所述根据所述待测试基带芯片的多个瞬时工作电压值和各所述瞬时工作电压值对应的工作电流值，获取所述待测试基带芯片的功耗，包括：

根据各所述瞬时工作电压值对应的工作电流值，获取平均工作电流值；

根据各所述瞬时工作电压值和所述平均工作电流值，获取各所述瞬时工作电压值对应的瞬时功耗；

根据各所述瞬时功耗，获取所述待测试基带芯片的平均功耗。

可选的，所述待测试基带芯片追踪到的预设卫星，包括：北斗二号BD-2卫星和全球定位GPS卫星。

可选的，所述BD-2卫星，包括：

地球同步轨道卫星GEO、倾斜地球同步轨道卫星IGSO和中地球轨道卫星MEO；

其中，所述待测试基带芯片追踪卫星位置的精度强弱度PDOP≤8。