[发明专利]debug程序运行展示方法及装置在审
申请号: | 201810099597.8 | 申请日: | 2018-01-31 |
公开(公告)号: | CN108304300A | 公开(公告)日: | 2018-07-20 |
发明(设计)人: | 张钰磊;李新娟;张小军 | 申请(专利权)人: | 芯颖科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/32 | 分类号: | G06F11/32 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 逯恒 |
地址: | 200335 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信号状态 目标程序 显示屏 运行时 驱动芯片 数据传输 芯片调试 获知 展示 直观 开发 清晰 观看 | ||
本发明例提供了一种debug程序运行展示方法及装置,涉及芯片调试技术领域。所述方法包括:获得需要debug的目标程序在运行时所产生的至少一个信号的至少一个信号状态数据;将所述至少一个信号状态数据中的每个信号状态数据的相关数据传输至所述显示屏。通过驱动芯片获得每个信号状态数据的相关数据,且通过显示屏来显示每个信号状态数据的相关数据,使得开发人员通过观看显示屏的显示便能够清晰直观的获知需要debug的目标程序在运行时每个信号是否正常,并使得开发人员在不正常时能够快速准确的确定出需要debug的目标程序的问题所在。
技术领域
本发明涉及芯片调试技术领域,具体而言,涉及一种debug程序运行展示方法及装置。
背景技术
随着制程工艺的进步,市场对小型化、高性能的需求,单颗芯片(SOC)的集成度要求越来越高。目前,一颗驱动芯片的制作流程依次包括:规格制定、系统设计、电路设计、版图设计、时序分析、铸造加工和流片。以及在流片之后进行debug和测试,最后实现量产。在经过这些流程时,需要研发工程师和测试工程师的反复量测,才终于确保驱动芯片的性能在设计容限范围之内,最终投向市场。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种debug程序运行展示方法及装置,以有效的改善上述缺陷。
本发明的实施例通过如下方式实现:
第一方面,本发明实施例提供了一种debug程序运行展示方法,应用于一驱动芯片,所述驱动芯片与显示屏连接。所述方法包括:获得需要debug的目标程序在运行时所产生的至少一个信号的至少一个信号状态数据;将所述至少一个信号状态数据中的每个信号状态数据的相关数据传输至所述显示屏。
结合上述第一方面提供的技术方案,在一些可能的实现方式中,相关数据为波形数据;所述将所述至少一个信号状态数据中的每个信号状态数据的相关数据传输至所述显示屏。包括:在预设的数据编译程序实时监测到每个信号状态数据时,所述预设的数据编译程序将每个信号状态数转换为波形数据;将每个波形数据传输至所述显示屏。
结合上述第一方面提供的技术方案,在一些可能的实现方式中,相关数据为预设格式的数据字符串,所述将所述至少一个信号状态数据中的每个信号状态数据的相关数据传输至所述显示屏。包括:在预设的数据编译程序实时监测到每个信号状态数据时,所述预设的数据编译程序将每个信号状态数转换为预设格式的数据字符串;将每个数据字符串传输至所述显示屏。
结合上述第一方面提供的技术方案,在一些可能的实现方式中,相关数据为信号状态数据;所述将所述至少一个信号状态数据中的每个信号状态数据的相关数据传输至所述显示屏。包括:在实时监测到每个信号状态数据时,将每个信号状态数据传输至所述显示屏。
结合上述第一方面提供的技术方案,在一些可能的实现方式中,所述获得需要debug的目标程序在运行时所产生的至少一个信号的至少一个信号状态数据之前。所述方法包括:获得所述需要debug的目标程序的debug运行指令;根据所述debug运行指令从至少一个程序中确定出并运行所述需要debug的目标程序。
第二方面,本发明实施例提供了一种debug程序运行展示装置,应用于一驱动芯片,所述驱动芯片与显示屏连接。所述装置包括:数据获得模块,用于获得需要debug的目标程序在运行时所产生的至少一个信号的至少一个信号状态数据。数据传输模块,用于将所述至少一个信号状态数据中的每个信号状态数据的相关数据传输至所述显示屏。
结合上述第二方面提供的技术方案,在一些可能的实现方式中,相关数据为波形数据。所述数据传输模块包括:第一转换单元,用于在预设的数据编译程序实时监测到每个信号状态数据时,所述预设的数据编译程序将每个信号状态数转换为波形数据。第一传输单元,用于将每个波形数据传输至所述显示屏。
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