[发明专利]TFT-LCD制造业电压暂降经济损失预评估方法

权利要求书

1.一种TFT-LCD制造业电压暂降经济损失预评估方法，其特征在于，包括如下步骤，

步骤S1、根据TFT-LCD生产过程工艺流程、厂务系统的重要性和影响程度，提出TFT-LCD生产过程电压暂降经济损失评估模型；

步骤S2、测试不同电压暂降深度下关键设备、厂务系统的过程免疫时间，结合TFT-LCD生产过程电压暂降经济损失评估模型得到TFT-LCD生产过程的综合PIT曲线；

步骤S3、在外部条件变化较小的背景下，将企业所接电网上一年度电压暂降监测数据作为其新建生产线未来一年可能遭遇的电压暂降事件；

步骤S4、通过历史电压暂降数据在综合PIT曲线上的次数预测下一年度生产过程中断次数N；

步骤S5、结合单次生产过程中断损失成本C和生产过程中断次数N，预估新建生产线的经济损失；

所述步骤S1中，TFT-LCD生产过程工艺流程生产次序为：上玻璃基板→薄膜晶体管阵列工艺→成盒工艺→模组工艺，下玻璃基板→彩膜工艺→成盒工艺→模组工艺；厂务系统包括工艺冷却水系统、压缩空气系统、一般氮气系统；

所述步骤S1中，TFT-LCD生产过程工艺流程负责将原始玻璃加工至液晶屏幕模块，厂务系统负责保证设备的物理参数；

单次生产过程中断损失成本C包括直接经济损失和间接经济损失；对于已有企业扩建的新产线，C可通过统计历史电压暂降造成的损失得到，对于新企业新建的生产线，可根据自己生产规模参考现有产线得到；

所述直接经济损失包括废品损失、停工损失、重启动损失、设备成本，间接经济损失包括减产的利润损失、次品造成的损失；

所述电压暂降经济损失评估模型包含有三级或门，第一级或门包括厂务系统，第二级或门包含薄膜晶体管阵列工艺以及彩膜工艺，第三级或门包含薄膜晶体管阵列工艺对应的敏感设备以及彩膜工艺对应的敏感设备。