[发明专利]一种液晶显示器EDID自动烧录方法有效
申请号: | 201810100453.X | 申请日: | 2018-02-01 |
公开(公告)号: | CN108227256B | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
发明(设计)人: | 卢业敏;李国栋;张垂宏 | 申请(专利权)人: | 捷星显示科技(福建)有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡学俊 |
地址: | 350301 福建省福*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 液晶显示器 edid 自动 方法 | ||
本发明涉及一种液晶显示器EDID自动烧录方法。采用两次烧录的方式,具体的:第一次烧录:PC上的烧录程式只烧录SN;第二次烧录:PC上的烧录程式先读取第一次烧录的SN,然后更新EDID,最后进行EDID烧录。本发明方法减少人力和站位,提升效率,降低生产成本,烧录时间缩短,且无需人力维护。
技术领域
本发明涉及一种液晶显示器EDID自动烧录方法。
背景技术
液晶显示器EDID烧录是液晶显示器生产过程中必须的生产过程,由于烧录时需要更新SN,使用读码枪进行人工读码是目前常用的方法。
当前功能复杂的显示器越来越多,接口多则烧录时间长,会占用过多的人力和站位,生产成本较高。现今液晶显示器EDID烧录过程的主要缺点如下:
1、接口多的机种则烧录时间长,效率低;站位多,站位维护复杂;
2、占用过多人力进行EDID烧录。
现有的专利:一种液晶显示器EDID烧录方法(专利号:201610635602.3),其采用了2次烧录的方式,第一次烧录的是固定SN的EDID,是单颗IC的烧录,需增加IC烧录治具,需对烧录的IC进行管控;第二次烧录需显示器FW的支持,需变更所有显示器FW。
为了克服现有专利需单颗烧录和需变更显示器FW的缺点,本申请提出了一种新的液晶显示器EDID自动烧录方法,既不需变更显示器FW,也不需增加烧录治具对单颗IC烧录,第一次只烧SN到EDID的固定位置;第二次不需从读码枪读码,直接烧录EDID。在只变更烧录Tool的情况下,具有更高的效率,更易实现生产自动化。
发明内容
本发明的目的在于提供一种液晶显示器EDID自动烧录方法,该方法减少人力和站位,提升效率,降低生产成本,烧录时间缩短,且无需人力维护。
为实现上述目的,本发明的技术方案是:一种液晶显示器EDID自动烧录方法,包括如下步骤,
步骤S1、第一次烧录:PC上的烧录程式只烧录SN;
步骤S2、第二次烧录:PC上的烧录程式先读取第一次烧录的SN,然后更新EDID,最后进行EDID烧录。
在本发明一实施例中,所述步骤S1具体实现步骤如下:
S11、液晶显示器到达烧录站,自插治具插入,液晶显示器与烧录卡连接;
S12、程式通过串口一获取液晶显示器到位信号后,通过并口发送指令给液晶显示器的MCU;
S13、程式通过并口获取液晶显示器的回传信息,通过回传信息进入不同的步骤;若通讯正常,则进入步骤S14,否则进入步骤S110;
S14、程式通过串口一控制读码枪进行读码操作,并通过串口二获取SN数据;
S15、程式Check SN的长度及特征是否正常,如正常则进入步骤S16,否则进入步骤S111;
S16、判断步骤S13的回传信息,如支持直接烧录,则进入步骤S17,否则进入步骤S18;
S17、直接烧录SN:程式生成包含SN的命令,SN数据直接烧录到EDID中;
S18、间接烧录SN:程式生成包含SN的命令,发送给液晶显示器的MCU进行间接烧录;
S19、程式读取EDID,按写入特征解析出SN,与烧入的SN进行对比,如相同,则进入步骤S113,否则进入步骤S112;
S110、显示通讯异常,提示操作人员进行异常处理;
S111、显示SN数据错误,提示操作人员进行异常处理;
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