[发明专利]一种旋转式激光轮廓测量方法、存储装置及其测量装置在审

专利信息
申请号: 201810102154.X 申请日: 2018-02-01
公开(公告)号: CN108007353A 公开(公告)日: 2018-05-08
发明(设计)人: 王险峰;李陶然;李大望;李龙元;韩宁旭;邢锋 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/24;G01B11/30
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 王永文;刘文求
地址: 518060 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 旋转 激光 轮廓 测量方法 存储 装置 及其 测量
【权利要求书】:

1.一种旋转式激光轮廓测量方法,其特征在于,包括如下步骤:

检测主机分别开启数据采集器和激光测距仪,并控制旋转底座以预定转速带动试件转动;

激光测距仪对试件进行点扫信息采集,记录试件在当前平面各个轮廓检测点的测量数据;

旋转底座旋转一周后,激光测距仪沿支架上升预定高度,并重新对试件进行新高度平面的点扫信息采集,记录试件在新高度平面的各个轮廓检测点的测量数据;

依次重复上述步骤,直至完成对试件各高度平面的点扫信息采集;

通过试件的各高度平面的各个轮廓检测点的测量数据,计算得到试件的形状。

2.根据权利要求1所述的旋转式激光轮廓测量方法,其特征在于,在所述依次重复上述步骤,直至完成对试件各高度平面的点扫信息采集的步骤之后,还包括步骤:

停止旋转底座的转动,将试件各高度平面的各个轮廓检测点的测量数据记录为工况一数据;

对旋转底座上的试件进行移动后,检测主机重新控制旋转底座以预定转速带动试件转动;

激光测距仪对移动后额试件进行点扫信息采集,记录移动后的试件在当前平面各个轮廓检测点的测量数据;

旋转底座旋转一周后,支架上的激光测距仪自动上升预定高度,激光测距仪对移动后的试件进行点扫采集并记录新高度的激光数据;

依次重复上述步骤,直至完成对移动后的试件各高度平面的点扫信息采集,将移动后的试件各高度平面的各个轮廓检测点的测量数据记录为工况二数据。

3.根据权利要求2所述的旋转式激光轮廓测量方法,其特征在于,在所述激光测距仪对试件进行点扫信息采集,记录试件在当前平面各个轮廓检测点的测量数据的步骤之前,还包括步骤:

检测主机建立以旋转底座的旋转中心为坐标系原点的虚拟坐标系,并且定义激光测距仪的横坐标为xa、激光测距仪的纵坐标为ya

4.根据权利要求3所述的旋转式激光轮廓测量方法,其特征在于,所述通过试件的各高度平面的各个轮廓检测点的测量数据,计算得到试件的形状的步骤具体包括:

根据工况一数据定义试件移动前的轮廓检测点的坐标方程;

根据工况二数据定义试件移动后的轮廓检测点的坐标方程,并通过试件移动时的旋转中心及旋转角对试件移动后的各个轮廓检测点的坐标方程进行逆运算后获得工况一中的轮廓检测点的坐标逆推方程;

对工况一中轮廓检测点的坐标方程及工况二中轮廓检测点的坐标逆推方程进行插值计算;

得到试件在该平面高度的各个轮廓点的具体坐标位置。

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