[发明专利]一种UV减粘膜及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810105707.7 申请日: 2018-02-02
公开(公告)号: CN108192524A 公开(公告)日: 2018-06-22
发明(设计)人: 闫勇;陈伟 申请(专利权)人: 苏州城邦达力材料科技有限公司
主分类号: C09J7/38 分类号: C09J7/38;C09J133/04;C09J175/14;C09J11/04;C09J4/02;C09J4/06
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 舒畅
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 粘膜 减粘 制备 基材层表面 组合物涂布 离型膜层 基材层 减粘层 粘合力 贴合 表面电阻率 抗静电作用 抗静电剂 保护膜 防静电 基材 熟化 预烘 剥离 协同
【说明书】:

发明涉及保护膜技术领域,尤其是涉及一种UV减粘膜及其制备方法。所述UV减粘膜,包括依次贴合的基材层、UV减粘层和离型膜层,其中,所述UV减粘层是由所述UV减粘组合物涂布于基材层表面得到的,所述UV减粘组合物中包括抗静电剂;所述基材层的表面电阻率≤1011Ω/□。所述UV减粘膜的制备方法,将UV减粘组合物涂布于基材层表面,预烘后在UV减粘组合物上贴合离型膜层,熟化,得到所述UV减粘膜。所述UV减粘膜在UV照射前具有优异的粘合力,在UV照射后粘合力大幅下降易于剥离,并且与具有抗静电作用的基材协同使用,具有优异的防静电作用。

技术领域

本发明涉及保护膜技术领域,尤其是涉及一种UV减粘膜及其制备方法。

背景技术

在半导体制作过程中,进行半导体晶圆切割、打磨时,为降低硅薄层缺陷密度,常常使用晶圆切割减粘保护膜。减粘保护膜是指在使用时粘合力强,而在后期剥离过程中,粘合力减弱以便剥离。

目前市场上的减粘保护膜多为UV减粘保护膜,是指在UV照射前具有高度粘合力,贴附性好,在UV照射后粘合力明显下降,易于剥离。国内市场上用于晶圆切割和捡取工艺等保护的UV减粘胶多以日本、中国台湾为主,国内UV减粘胶也有几家在研发推广,但性能尚未完全稳定。并且,UV减粘保护膜的基材在使用过程中由于摩擦作用很容易产生静电,在用于静电要求较高的电子零件领域的使用受到限制,比如容易吸附灰尘,然后转移到贴合的产品表面,或者静电电压过高,导致零件产生不良等。

有鉴于此,特提出本发明。

发明内容

本发明的第一目的在于提供一种UV减粘膜,所述UV减粘膜在UV照射前具有优异的粘合力,在UV照射后粘合力大幅下降易于剥离,并且具有优异的防静电作用。

本发明的另一目的在于提供一种所述UV减粘膜的制备方法,所述制备方法操作工艺简单,可重复性好。

为了实现本发明的上述目的,特采用以下技术方案:

一种UV减粘膜,包括依次贴合的基材层UV减粘层和离型膜层,其中,所述UV减粘层是由所述UV减粘组合物构成,所述UV减粘组合物中包括抗静电剂;所述基材层的表面电阻率≤1011Ω/□。

本发明采用了具有抗静电作用的基材层和UV减粘层,双层协同作用,增强了所述UV减粘层的抗静电性能,并且所述UV减粘膜在UV照射前具有优异的粘合力,在UV照射后粘合力大幅下降易于剥离。

优选的,所述基材层包括抗静电PET薄膜、抗静电PO薄膜、抗静电PVC 薄膜中的任一种。更优选的,所述基材层的厚度为50-150μm,优选75-125 μm,更优选为100μm。

优选的,所述UV减粘层的厚度为10-30μm,优选为15-25μm,更优选为20μm。

优选的,所述离型膜层为PET离型膜层,更优选的,所述离型膜层的离型力为10-100gf,进一步优选的,所述离型膜层的厚度为20-50μm。

优选的,所述UV减粘组合物,主要由按重量百分比计的如下原料制成:

丙烯酸酯压敏胶树脂20%-50%、多官能度低聚物和/或多官能度单体 1%-30%、交联剂0.3%-2%、抗静电剂0.1%-5%、分散剂0-2%、流平剂0.2%-2%、光引发剂0.5%-5%和溶剂25%-60%。

本发明通过上述原料制备得到的UV减粘组合物,具有优异的粘合力, UV照射前具有高粘合力,剥离力高,UV照射后具有低粘合力,UV剥离力低,抗静电效果好。所述多官能度低聚物和/或多官能度单体经UV照射后自身产生交联反应,交联反应后产生较大体积收缩使所述UV减粘组合物与被粘合物体表面之间产生褶皱,褶皱大的位置产生微孔,使UV减粘组合物与被粘合物体表面之间接触面积减小,从而实现减粘作用。

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