[发明专利]存储设备的写入方法及写入装置有效
申请号: | 201810109412.7 | 申请日: | 2013-11-22 |
公开(公告)号: | CN108196799B | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | 舒继武;范捷;朱冠宇 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司;清华大学 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06;G06F11/10;G11C13/00;G11C29/08;G11C11/419;G11C16/10 |
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地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储 设备 写入 方法 装置 | ||
本发明实施例提供了一种存储设备的写入方法及写入装置,该写入方法包括:获取需要写入的n个数值;确定与其对应的n个比特位,以及n个比特位包含的固定型故障的信息;将n个比特位分成B组比特位,以使得满足分组条件,并且使得当将n个比特位表示为B行A列的二维数组时,属于同一个组的任何两个比特位所在的行和列均不同或所在的行相同;根据B组比特位中的每一组比特位包含的固定型故障的信息和与之对应的需要写入的数值,将n个数值对应写入。本发明实施例通过调整同一组中相邻两个比特位的间隔,确定分组,并根据每一组包含的固定型故障的信息,将需要写入的n个数值对应写入,能够有效地防止阻抗性存储设备中的固定型故障导致的写入错误。
技术领域
本发明实施例涉及计算机存储领域,并且更具体地,涉及一种存储设备的写入方法及写入装置。
背景技术
阻抗性存储设备通过介质不同的阻抗状态来分别存储“0”和“1”的信息。但是,绝大多数的阻抗性存储设备都存在写寿命的问题,频繁的写操作会导致产生固定型故障(stuck-at fault)。
当阻抗性存储设备产生stuck-at fault的硬件错误时,发生错误的存储单元保持在一个固定的值“0”或“1”不变,并且此单元的值将永远不能再继续被改写。并且,stuck-atfault发生的概率远高于短暂性错误(transient error),成为了阻抗性内存中的一种主要故障错误。
现有的内存系统下基于汉明码的多位纠错机制虽然可以用于纠正此类stuck-atfault,但是这种基于汉明码的多位纠错机制是写密集型的,会加重系统的stuck-at fault的发生。
发明内容
本发明实施例提供一种存储设备的写入方法,能够解决发生固定型故障的存储设备写入错误的问题。
第一方面,提供了一种存储设备的写入方法,所述写入方法包括:获取需要写入的n个数值;确定与所述需要写入的n个数值对应的n个比特位,以及所述n个比特位包含的固定型故障的信息,所述固定型故障的信息包括所述固定型故障在所述n个比特位中的位置和所述固定型故障所在的比特位的数值;将所述n个比特位分成B组比特位,以使得所述B组比特位满足分组条件,并且使得当将所述n个比特位表示为B行A列的二维数组时,所述n个比特位中的属于同一个组的任何两个比特位所在的行不同且所在的列不同,或者所述n个比特位中的属于同一个组的任何两个比特位所在的行相同,所述分组条件用于限定所述B组比特位中的每一组比特位包含的固定型故障;根据所述B组比特位中的每一组比特位包含的固定型故障的信息和与所述固定型故障所在的比特位对应的需要写入的数值,将所述需要写入的n个数值对应写入所述n个比特位,其中,n、A和B为正整数,n≤A×B。
结合第一方面,在第一种可能的实现方式中,所述将所述n个比特位分成B组比特位,以使得所述B组比特位满足分组条件,包括:将所述n个比特位分成B组比特位,以使得当将所述n个比特位表示为所述B行A列的二维数组时,所述B组比特位中的第i组比特位的第j个比特位在所述B行A列的二维数组中的位置满足:pi,j+1=pi,j+1,qi,j+1=(qi,j+k)modB;调整所述k的取值,使得所述B组比特位满足分组条件,其中,pi,j为所述B组比特位中的第i组比特位的第j个比特位在所述二维数组中的列数,qi,j为所述B组比特位中的第i组比特位的第j个比特位在所述二维数组中的行数,i和qi,j为不大于B的正整数,j和pi,j为不大于A的正整数,k为小于B的非负整数,所述调整所述k的取值包括所述k的取值增加1,B为不小于的最小素数,且
结合第一方面或者第一方面的第一种可能的实现方式,在第二种可能的实现方式中,所述分组条件包括:所述B组比特位中的每一组比特位包含的固定型故障的个数不超过一个。
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