[发明专利]基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法

权利要求书

1.一种基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1：在镜像综合孔径辐射计中只有x方向存在反射板时，根据天线阵列与x方向的反射板得到天线阵列输出的第一相关函数构成的第一线性方程组；

S2：在镜像综合孔径辐射计中x方向和y方向均存在反射板时，根据天线阵列与x方向的反射板以及y方向的反射板得到天线阵列输出的第二相关函数构成的第二线性方程组；

S3：在镜像综合孔径辐射计中只有y方向存在反射板时，根据天线阵列与y方向的反射板得到天线阵列输出的第三相关函数构成的第三线性方程组；

S4：将第一线性方程组、第二线性方程组和第三线性方程组进行组合，得到包含场景亮温图像信息的目标线性方程组；

S5：通过求解包含场景亮温图像信息的目标线性方程组，得到余弦可见度函数；

S6：利用余弦可见度函数进行反余弦变换，重建场景亮温图像；

所述步骤S1和步骤S2中x方向的反射板位置相同，所述步骤S2和步骤S3中y方向的反射板位置相同。

2.如权利要求1所述的一种基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法，其特征在于，所述步骤S1、步骤S2和步骤S3之间的顺序可以互换。

3.如权利要求1或2所述的一种基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法，其特征在于，所述步骤S1的具体实现方式为：

在镜像综合孔径辐射计中只有x方向存在反射板时，根据天线阵列获取的观测场景的辐射信号以及x方向的反射板反射的辐射信号，得到天线阵列输出的第一相关函数，利用第一相关函数构成的第一线性方程组为：R^x＝P^x·CV^x，其中，R^x是第一线性方程组，P^x为第一转移矩阵，CV^x为第一余弦可见度函数，第一线性方程组中每个方程为其中，天线阵列包括天线a_i和天线a_j，x_i为天线a_i在x方向的坐标，y_i为天线a_i在y方向的坐标，x_j为天线a_j在x方向的坐标，y_j为天线a_j在y方向的坐标，CV(·)为二维余弦可见度函数。

4.如权利要求3所述的一种基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法，其特征在于，所述步骤S2的具体实现方式为：

在镜像综合孔径辐射计中x方向和y方向均存在反射板时，根据天线阵列获取的观测场景的辐射信号、x方向的反射板反射的辐射信号以及y方向的反射板反射的辐射信号，得到天线阵列输出的第二相关函数，利用第二相关函数构成的第二线性方程组为：R^xy＝P^xy·CV^xy，其中，R^xy是第二线性方程组，P^xy为第二转移矩阵，CV^xy为第二余弦可见度函数，第二线性方程组中每个方程为：

5.如权利要求4所述的一种基于反射板组合的镜像综合孔径辐射计成像方法，其特征在于，所述步骤S3的具体实现方式为：

在镜像综合孔径辐射计中只有y方向存在反射板时，根据天线阵列获取的观测场景的辐射信号以及y方向的反射板反射的辐射信号，得到天线阵列输出的第三相关函数，利用第三相关函数构成的第三线性方程组为：R^y＝P^y·CV^y，其中，R^y是第三线性方程组，P^y为第三转移矩阵，CV^y为第三余弦可见度函数，第三线性方程组中每个方程为：