[发明专利]芯片引脚电路、芯片和芯片测试方法

权利要求书

1.一种芯片引脚电路，其特征在于，所述芯片引脚电路包括电源管脚、芯片信号引脚、地信号引脚，所述芯片引脚电路还包括连接在所述芯片信号引脚对所述电源管脚的电路中的第一可断组件，或者/和连接在所述芯片信号引脚对所述地信号引脚的电路中的第二可断组件；所述第一可断组件或者/和所述第二可断组件用于在控制信号的作用后处于不可恢复的断路状态；所述第一可断组件或者/和所述第二可断组件设置于所述芯片的内部。

2.根据权利要求1所述的芯片引脚电路，其特征在于，所述第一可断组件包括第一可控断器件，或者包括第一辅控制电路和第一可断器件；或者/和所述第二可断组件包括第二可控断器件，或者包括第二辅控制电路和第二可断器件；

所述第一可控断器件或者/和所述第二可控断器件用于在所述控制信号的直接作用后处于不可恢复的断路状态；

所述第一辅控制电路用于在所述控制信号的直接作用后，改变所述第一可断器件的连接状态，以使所述第一可断器件处于不可恢复的断路状态；或者/和所述第二辅控制电路用于在所述控制信号的直接作用后，改变所述第二可断器件的连接状态，以使所述第二可断器件处于不可恢复的断路状态。

3.根据权利要求2所述的芯片引脚电路，其特征在于，所述第一可控断器件或者/和所述第二可控断器件在所述控制信号的直接作用后，从未接入状态或者正常通路状态改变为异常通路状态，以处于不可恢复的断路状态；

或者

所述第一辅控制电路用于在所述控制信号的直接作用后，使得所述第一可断器件从未接入状态或者正常通路状态改变为异常通路状态，以处于不可恢复的断路状态；或者/和，所述第二辅控制电路用于在所述控制信号的直接作用后，使得所述第二可断器件从未接入状态或者正常通路状态改变为异常通路状态，以处于不可恢复的断路状态。

4.根据权利要求2所述的芯片引脚电路，其特征在于，所述第一可控断器件包括可熔断器件、电阻或者开关管；所述第二可控断器件包括可熔断器件、电阻或者开关管；所述第一可断器件包括可熔断器件、开关管或者电阻；所述第二可断器件包括可熔断器件、开关管或者电阻。

5.根据权利要求1所述的芯片引脚电路，其特征在于，所述第一可断组件的电阻值和所述第二可断组件的电阻值分别低于设定阻值门限值。

6.根据权利要求1所述的芯片引脚电路，其特征在于，所述第一可断组件为电阻值低于设定阻值门限值的第一电阻，或者/和所述第二可断组件为电阻值低于所述设定阻值门限值的第二电阻；

所述第一电阻或者/和所述第二电阻在所述控制信号的作用后发生损坏，并且损坏后处于不可恢复的断路状态。

7.根据权利要求1至6任意一项所述的芯片引脚电路，其特征在于，所述控制信号包括电流值高于设定电流值门限值的电流信号或者电压值高于设定电压值门限值的电压信号。

8.一种芯片，其特征在于，所述芯片包括如权利要求1至7任意一项的所述的芯片引脚电路。

9.一种芯片测试方法，其特征在于，所述芯片包括如权利要求1至7任意一项的所述的芯片引脚电路；所述测试方法包括：分别对所述芯片中的所述第一可断组件或者/和所述第二可断组件施加所述控制信号，以使所述第一可断组件或者/和所述第二可断组件处于不可恢复的断路状态；所述芯片为未通过测试验证的芯片。

10.根据权利要求9所述的芯片测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：对施加所述控制信号后的所述芯片进行正向开短路测试或者/和反向开短路测试，得到所述芯片的复测结果。