[发明专利]微元件转移系统有效
申请号: | 201810124811.0 | 申请日: | 2018-02-07 |
公开(公告)号: | CN108630591B | 公开(公告)日: | 2020-12-29 |
发明(设计)人: | 吴炳升;吴昭文 | 申请(专利权)人: | 启端光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L33/00 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 元件 转移 系统 | ||
1.一种微元件转移系统,其特征在于,包含:
转移头,包含多个拾取电极,用以分别拾取多个微元件,且包含多个薄膜晶体管,分别相应于该些拾取电极;
转移头支架,用以支持该转移头;
薄膜晶体管驱动板,电性连接以驱动控制该些薄膜晶体管;
供给基板或接受基板,用以承载该些微元件
基板支架,用以支持该供给基板或接受基板;及
延伸部,设于该转移头的工作区外,该延伸部的一端邻近该转移头支架,且该延伸部的另一端的底面连接该薄膜晶体管驱动板。
2.根据权利要求1所述的微元件转移系统,其特征在于,其中该微元件的尺寸为1~100微米。
3.根据权利要求1所述的微元件转移系统,其特征在于,其中该微元件包含微发光二极管。
4.根据权利要求1所述的微元件转移系统,其特征在于,其中该些拾取电极及该些薄膜晶体管设于该转移头的底面且位于工作区内。
5.根据权利要求1所述的微元件转移系统,其特征在于,其中该些薄膜晶体管排列为矩阵形式,以形成薄膜晶体管主动式矩阵。
6.根据权利要求1所述的微元件转移系统,其特征在于,其中该薄膜晶体管驱动板包含:
扫描驱动器,连接以控制同一列的薄膜晶体管的闸极;
源极驱动器,连接以控制同一行的薄膜晶体管的源极;及
时序控制器,控制该扫描驱动器与该源极驱动器。
7.根据权利要求1所述的微元件转移系统,其特征在于,其中每一该薄膜晶体管的汲极相应连接至该拾取电极。
8.根据权利要求1所述的微元件转移系统,其特征在于,其中该薄膜晶体管包含:
基板;
闸极导电层,形成于该基板上,作为该薄膜晶体管的闸极;
闸极绝缘层,形成于该闸极导电层与该基板上;
源极导电层与汲极导电层,形成于该闸极绝缘层上,分别作为该薄膜晶体管的源极与汲极,该源极导电层与该汲极导电层分别与该闸极导电层的两端重叠;
平坦化层,形成于该闸极绝缘层、该源极导电层与该汲极导电层上;
屏蔽导电层,形成于该平坦化层上;
绝缘层,形成于该屏蔽导电层上;及
拾取电极层,形成于该绝缘层上及该绝缘层与该平坦化层的穿孔内,且连接至该汲极导电层,作为该拾取电极;
其中该拾取电极层穿透该绝缘层、该屏蔽导电层及该平坦化层,且不与该屏蔽导电层接触。
9.根据权利要求8所述的微元件转移系统,其特征在于,其中该薄膜晶体管的基板包含玻璃基板。
10.根据权利要求8所述的微元件转移系统,其特征在于,其中该薄膜晶体管更包含:
覆盖层,形成于该绝缘层与该拾取电极层上,用以保护该拾取电极。
11.根据权利要求10所述的微元件转移系统,其特征在于,其中该覆盖层包含缓冲材质。
12.根据权利要求1所述的微元件转移系统,其特征在于,其中该接受基板所承载的面板画素的间距为该些拾取电极的间距的整数倍。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造