[发明专利]正面出光的高压LED微显示装置及其制备方法在审
申请号: | 201810128152.8 | 申请日: | 2018-02-08 |
公开(公告)号: | CN108565275A | 公开(公告)日: | 2018-09-21 |
发明(设计)人: | 沈学如 | 申请(专利权)人: | 澳洋集团有限公司 |
主分类号: | H01L27/15 | 分类号: | H01L27/15;H01L33/36;H01L33/04;H01L33/32;G09F9/33 |
代理公司: | 苏州市港澄专利代理事务所(普通合伙) 32304 | 代理人: | 马丽丽 |
地址: | 215600 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发光单元 衬底 微显示装置 电性连接 高压LED 外延层 制备 成行排列 量子阱层 驱动电路 显示装置 出光率 成列 分隔 申请 | ||
1.一种正面出光的高压LED微显示装置,其特征在于,包括:
一衬底;以及
集成于所述衬底上的多个发光单元,每个所述发光单元分别包括依次形成于所述衬底上的外延层、ITO薄膜层和SiO2钝化层,所述外延层包括依次形成于所述衬底上的N型GaN层、量子阱层和P型GaN层,还包括:
成行排列的多条P电极,每条P电极分别与位于该行的所有发光单元的ITO薄膜层电性连接;
成列排列的多条N电极,每条N电极分别与位于该列的所有发光单元的N型GaN层电性连接,
所述SiO2钝化层分隔于所述P电极和N电极之间。
2.根据权利要求1所述的正面出光的高压LED微显示装置,其特征在于,ITO薄膜的厚度为230nm。
3.根据权利要求1所述的正面出光的高压LED微显示装置,其特征在于,所述衬底采用蓝宝石衬底。
4.根据权利要求1所述的正面出光的高压LED微显示装置,其特征在于,所述P电极和N电极的材料为Cr/Au金属。
5.根据权利要求1所述的正面出光的高压LED微显示装置,其特征在于,所述量子阱层采用InGaN/GaN结构。
6.根据权利要求5所述的正面出光的高压LED微显示装置,其特征在于,所述量子阱层由4个量子阱且阱层厚度为4nm的量子阱组成。
7.一种正面出光的高压LED微显示装置的制备方法,其特征在于,包括步骤:
(1)、采用气相外延生长方法制作外延层,包括依次在蓝宝石衬底表面依次生长N型GaN层、量子阱层和P型GaN层;
(2)、外延层清洗:将形成有外延层的衬底加入到煮沸的丙酮和无水乙醇混合溶液中,然后用去离子水清洗,再依次用王水和去离子水清洗,最后氮气吹干;
(3)采用电子束蒸发方法在外延层上表面沉积ITO薄膜;
(4)、光刻并腐蚀ITO薄膜,在氮气环境中进行退火;
(5)、采用电感耦合等离子体刻蚀方法刻蚀外延层至N型GaN层,形成台阶部;
(6)、采用磁控溅射方法在N型GaN层的台阶部上制作成列排列的多条N电极;
(7)、采用PECVD方法在暴露的P型GaN层、N型GaN层和N电极上形成SiO2钝化层;
(8)、光刻并腐蚀SiO2钝化层,以形成成行排列的多条P电极窗口;
(9)、采用磁控溅射方法在P电极窗口形成P电极。
8.根据权利要求7所述的正面出光的高压LED微显示装置的制备方法,其特征在于,所述量子阱层采用InGaN/GaN结构。
9.根据权利要求8所述的正面出光的高压LED微显示装置的制备方法,其特征在于,量子阱层由1至6个量子阱且阱层厚度为4nm的量子阱组成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的