[发明专利]ESD检测装置、系统及方法有效

专利信息
申请号: 201810131293.5 申请日: 2018-02-08
公开(公告)号: CN108254644B 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 董阳 申请(专利权)人: 芯颖科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 逯恒
地址: 200335 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: esd 检测 装置 系统 方法
【说明书】:

发明实施例提供一种ESD检测装置、系统及方法,属于电子技术领域。所述ESD检测装置包括第一触发器电路、第二触发器电路、逻辑电路模块以及主控模块,通过所述第一触发器电路输出多个第一预设值,以及所述第二触发器电路输出多个第二预设值,所述逻辑电路模块根据所述多个第一预设值和所述多个第二预设值进行逻辑运算后输出运算值,因此,所述主控模块可根据所述运算值判断系统中是否产生静电释放ESD动作,该ESD检测装置的电路设计简单,并且可将其设置在数字电路系统中的各个区域,从而可直观检测到各个区域的抗ESD能力的强弱。

技术领域

本发明涉及电子技术领域,具体而言,涉及一种ESD检测装置、系统及方法。

背景技术

在数字电路设计中,为了增强抗静电释放(Electro-Static discharge,ESD)的能力,通常会考虑设计ESD检测电路,而现有的数字电路的ESD检测方案多为:根据当前应用检测系统状态,检测多个关键控制信号之间的固定时序关系,定时读取系统寄存器数值与写入时的数值进行比较,关键数据通路做校验和检测等等方式。

上述数字电路的ESD检测电路会在正常的功能电路中额外增加较大面积的检测逻辑电路来进行ESD检测,检测结果比较间接,不能直观的定位数字电路部分那个区域抗ESD能力比较弱。

发明内容

本发明的目的在于提供一种ESD检测装置、系统及方法,其能够改善上述问题。

本发明的实施例是这样实现的:

一种ESD检测装置,所述ESD检测装置包括第一触发器电路、第二触发器电路、逻辑电路模块以及主控模块,所述第一触发器电路和第二触发器电路均与所述逻辑电路模块连接,所述逻辑电路模块与所述主控模块连接;所述第一触发器电路,用于输出多个第一预设值;所述第二触发器电路,用于输出多个第二预设值;所述逻辑电路模块,用于根据所述多个第一预设值和所述多个第二预设值进行逻辑运算后输出运算值;所述主控模块,用于根据所述运算值判断系统中是否产生静电释放ESD动作。

在本发明较佳的实施例中,所述逻辑电路模块包括第一或门逻辑电路、第二或门逻辑电路和与非门逻辑电路,所述第一触发器电路与所述第一或门逻辑电路连接,所述第二触发器电路与所述与非门逻辑电路连接,所述第一或门逻辑电路和所述与非门逻辑电路均与所述第二或门逻辑电路连接,所述第二或门逻辑电路与所述主控模块连接;所述第一或门逻辑电路,用于对所述多个第一预设值进行或运算,输出第一运算值至所述第二或门逻辑电路;所述与非门逻辑电路,用于对所述多个第二预设值进行与非运算,输出第二运算值至所述第二或门逻辑电路;所述第二或门逻辑电路,用于将所述第一运算值和所述第二运算值进行或运算,输出所述运算值至所述主控模块。

在本发明较佳的实施例中,所述第一触发器电路包括多个第一D触发器,所述第二触发器电路包括多个第二D触发器。

在本发明较佳的实施例中,所述多个第一D触发器均为设有复位端的D触发器,所述多个第二D触发器均为设有置位端的D触发器。

在本发明较佳的实施例中,将所述多个第一D触发器的复位端在初始化状态时均设为第一预设电平值,则所述多个第一预设值均为所述第一预设电平值,将所述多个第二D触发器的置位端在初始化状态时均设为第二预设电平值,则所述多个第二预设值均为所述第二预设电平值。

一种ESD检测系统,所述ESD检测系统包括多个上述的ESD检测装置。

一种ESD检测方法,应用于ESD检测装置,所述ESD检测装置包括第一触发器电路、第二触发器电路、逻辑电路模块以及主控模块,所述第一触发器电路和第二触发器电路均与所述逻辑电路模块连接,所述逻辑电路模块与所述主控模块连接,所述方法包括:所述第一触发器电路输出多个第一预设值;所述第二触发器电路输出多个第二预设值;所述逻辑电路模块根据所述多个第一预设值和所述多个第二预设值进行逻辑运算后输出运算值;所述主控模块根据所述运算值判断系统中是否产生静电释放ESD动作。

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