[发明专利]用于检测电子产品的检测方法在审
| 申请号： | 201810131523.8 | 申请日： | 2018-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN108398723A | 公开（公告）日： | 2018-08-14 |
| 发明（设计）人： | 李法利 | 申请（专利权）人： | 李法利 |
| 主分类号： | G01V3/11 | 分类号： | G01V3/11 |
| 代理公司： | 北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11539 | 代理人： | 李楠 |
| 地址： | 100040 北京市石景*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 检测 电子产品 波形相位角 探测数据 探测 磁场 金属制品 励磁线圈 待检测物体 感应线圈组 安检效率 磁场生成 金属探测 启动指令 提示信息 变电流 交变电 误报 解析 流产 报警 发送 | ||
1.一种用于检测电子产品的检测方法，其特征在于，所述方法包括：
控制单元根据用户的启动指令向励磁线圈发送交变电流，使得所述励磁线圈根据所述交变电流产生探测磁场；
当待检测物体通过所述探测磁场时，所述探测磁场发生变化；
感应线圈组根据变化后的探测磁场生成探测数据，并将所述探测数据发送至所述控制单元；
所述控制单元对所述探测数据进行解析，得到波形相位角数据；
确定所述波形相位角数据是否小于设定值；
当所述波形相位角数据小于设定值时，生成第一提示信息，并显示。
2.根据权利要求1所述的用于检测电子产品的检测方法，其特征在于，所述感应线圈组容置于所述励磁线圈内。
3.根据权利要求1所述的用于检测电子产品的检测方法，其特征在于，在所述控制单元对所述探测数据进行解析之前，所述方法还包括：
所述控制单元对所述探测数据进行过滤处理，得到过滤后的探测数据。
4.根据权利要求3所述的用于检测电子产品的检测方法，其特征在于，在所述得到过滤后的探测数据之后，所述方法还包括：
所述控制单元对所述过滤后的探测数据进行信号放大处理，得到放大后的探测数据。
5.根据权利要求4所述的用于检测电子产品的检测方法，其特征在于，所述控制单元对所述过滤后的探测数据进行信号放大处理具体为：
所述控制单元对所述过滤后的探测数据进行信号多级差分放大处理。
6.根据权利要求1所述的用于检测电子产品的检测方法，其特征在于，所述控制单元对所述探测数据进行解析，得到波形相位角数据具体为：
所述控制单元对所述探测数据进行解析，得到波形相位角数据和感应线圈位置信息。
7.根据权利要求6所述的用于检测电子产品的检测方法，其特征在于，所述生成第一提示信息具体为：
当所述波形相位角数据是否小于设定值时，生成第一提示信息；所述提示信息包括所述感应线圈位置信息。
8.根据权利要求1所述的用于检测电子产品的检测方法，其特征在于，所述设定值为0°。
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