[发明专利]片材检查装置在审

专利信息
申请号: 201810133158.4 申请日: 2018-02-09
公开(公告)号: CN108693196A 公开(公告)日: 2018-10-23
发明(设计)人: 宫田佳昭;松下明 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马爽;臧建明
地址: 日本京都府京都市下京区*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 被检查物 检查装置 片材 图像数据 特征量 异常检测构件 拍摄构件 片材状 合格品 外观图像 照明构件 检查 拍摄 照射光 检测 图像
【权利要求书】:

1.一种片材检查装置,其特征在于,包括:

照明构件,对片材状的被检查物照射光;

拍摄构件,利用从所述照明构件照射至所述被检查物的光的反射光和/或透射光,拍摄所述被检查物的图像;以及

异常检测构件,根据对所述拍摄构件所拍摄到的图像的图像数据进行处理而获得的特征量,检测所述被检查物中所含的异常;所述片材检查装置的特征在于:

所述异常检测构件是将从合格品的图像数据获得的所述特征量的分布设为成为检查的基准的基准分布,根据所述基准分布与从所述被检查物的图像数据获得的所述特征量的分布的相对关系,来检测异常。

2.根据权利要求1所述的片材检查装置,其特征在于:

所述异常检测构件通过提取所述基准分布与从所述被检查物的图像数据获得的所述特征量的分布的差分,来检测异常。

3.根据权利要求1所述的片材检查装置,其特征在于:

所述照明构件照射多个波长区域的光,

所述拍摄构件包括能够分别接收从所述照明构件照射的不同的多个波长区域的光的传感器,针对各个波长区域的光,拍摄从所述照明构件照射至所述被检查物的光的反射光和/或透射光,

所述异常检测构件根据所述基准分布与从图像数据获得的所述特征量的分布的相对关系,来检测异常,所述图像数据是针对所述各个波长区域的光而分别拍摄的。

4.根据权利要求2所述的片材检查装置,其特征在于:

所述照明构件照射多个波长区域的光,

所述拍摄构件包括能够分别接收从所述照明构件照射的不同的多个波长区域的光的传感器,针对各个波长区域的光,拍摄从所述照明构件照射至所述被检查物的光的反射光和/或透射光,

所述异常检测构件根据所述基准分布与从图像数据获得的所述特征量的分布的相对关系,来检测异常,所述图像数据是针对所述各个波长区域的光而分别拍摄的。

5.根据权利要求3所述的片材检查装置,其特征在于:所述特征量为色调、明度或彩度。

6.根据权利要求1至5任一项所述的片材检查装置,其特征在于进而包括:

不合格特征检测构件,将从不合格品的图像数据获得的特征量设为不合格样品特征量,根据所述不合格样品特征量来检测所述被检查物的异常;并且

可以对利用所述不合格特征检测构件的异常的检测、与利用所述异常检测构件的异常的检测进行切换或组合。

7.根据权利要求6所述的片材检查装置,其特征在于:

所述不合格特征检测构件利用根据所述不合格样品特征量而设定的阈值来检测异常。

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