[发明专利]一种化学发光免疫分析测光装置及方法

权利要求书

1.一种化学发光免疫分析测光装置，其应用于全自动化学发光分析仪中，其特征在于，包括带动芯片盒运动的部件以及发光检测模组；所述发光检测模组包括柔性伸缩元件，所述发光检测模组能够垂直于所述芯片盒的运动方向进行上升和下降动作；当所述发光检测模组下降测光时，通过所述柔性伸缩元件对芯片盒的反应杯进行密封。

2.如权利要求1所述的化学发光免疫分析测光装置，其特征在于，所述发光检测模组与芯片盒的接触口为圆筒状单层结构，所述圆筒状单层结构外侧与芯片盒的反应杯口大小配合设计，其内侧连接弹性元件，当发光检测模组下降时，所述圆筒状单层结构内嵌入反应杯口，在所述弹性元件的作用下，对内嵌起到缓存作用。

3.如权利要求1所述的化学发光免疫分析测光装置，其特征在于，所述发光检测模组与芯片盒的接触口为圆筒状双层结构，所述圆筒状双层结构外侧与芯片盒的反应杯口大小配合设计，其内侧连接弹性元件，当发光检测模组下降时，所述圆筒状双层结构的中间凹陷部接触反应杯口后，在所述弹性元件的作用下，对接触起到缓存作用。

4.如权利要求1所述的化学发光免疫分析测光装置，其特征在于，所述发光检测模组还包括快门单元和光电检测单元。

5.如权利要求4所述的化学发光免疫分析测光装置，其特征在于，所述带动芯片盒运动的部件带动所述芯片盒沿第二直线导轨直线运动。

6.如权利要求5所述的化学发光免疫分析测光装置，其特征在于，所述带动芯片盒运动的部件带动所述芯片盒沿第二直线导轨返回到推料结构中，进行推料操作。

7.如权利要求5所述的化学发光免疫分析测光装置，其特征在于，所述第二直线导轨的至少一部分设置为中空结构，所述中空结构中设置有可受控推动的推块，所述推块可沿所述中空结构推出。

8.如权利要求7所述的化学发光免疫分析测光装置，其特征在于，所述第二直线导轨长度方向上入口处至少一部分呈U型结构，所述U型结构包括两侧的第一竖直挡板和第二竖直挡板，以及水平挡板，长度方向上另一部分呈L型结构，所述L型结构包括第一竖直挡板和水平挡板，所述中空结构设置在所述L型结构的第一竖直挡板上，芯片盒的的地面结构所述水平挡板，芯片盒的侧面接触所述第一竖直挡板或第二竖直挡板。

9.如权利要求4所述的化学发光免疫分析测光装置，其特征在于，还包括发光检测模组运动电机，所述发光检测模组运动电机驱动所述整体与底物针同时上升或下降动作，所述发光检测模组运动电机设置所述快门模组底端的侧面，通过滚珠花键轴联动所述整体及所述底物针。

10.如权利要求4所述的化学发光免疫分析测光装置，其特征在于，还包括第一直线导轨，所述第一直线导轨设置在所述第二直线导轨上侧的侧边；

所述第一直线导轨与第二直线导轨之间通过滑块耦接，所述滑块呈L型结构，所述滑块的L型结构的底面具有挂扣芯片盒的凸出部件，通过设置在所述第一直线导轨一端的运送电机带动所述滑块移动，所述滑块的凸出部件带动所述芯片盒沿第二直线导轨直线移动。

11.一种使用如权利要求1-10任意一项所述的化学发光免疫分析测光装置的方法，其特征在于，包括如下步骤：

1）选择待检测的芯片盒：运送电机驱动滑块沿第一直线导轨直线移动，滑块的凸出部件挂住所述芯片盒，将待检测的芯片盒沿第二直线导轨拉入到发光检测模组下；

2）进行发光检测；发光检测模组运动电机控制发光检测模组和快门模组组合的整体垂直于第二直线导轨下降，直到所述发光检测模组外侧接触口接触到芯片盒的反应杯口，所述接触通过发光检测模组的弹性元件的弹力作用呈现柔性接触，当接触完成后，控制快门模组进行发光检测。