[发明专利]一种无源雷达测向方法及系统有效
申请号: | 201810135283.9 | 申请日: | 2018-02-09 |
公开(公告)号: | CN108344983B | 公开(公告)日: | 2020-03-27 |
发明(设计)人: | 刘玉春;程琳;王洪雁;朱思峰;朱海;朱磊;豆桂平 | 申请(专利权)人: | 周口师范学院 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 王戈 |
地址: | 466000 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 无源 雷达 测向 方法 系统 | ||
1.一种无源雷达测向方法,其特征在于,所述测向方法包括:
获取接收机绕转动中心转动的轨迹函数,所述接收机绕转动中心转动的轨迹为椭圆轨迹;
根据所述轨迹函数获取待测目标的斜距历程函数,所述斜距历程函数为外辐射源信号经过所述待测目标到达接收机经过的历程函数;所述斜距历程函数为R(t)=RT+R0-acosαcos(ωt)-bsinαsin(ωt),其中R(t)表示待测目标的斜距历程,RT为待测目标与外辐射源之间的距离,R0是待测目标到转动中心的距离,a为所述椭圆轨迹的半长轴,b为所述椭圆轨迹的半短轴,α为待测目标方位角,ωt=θ是椭圆轨迹转动的角度;
根据所述斜距历程确定回波信号;
构建待测目标识别区域的信号识别矩阵;
根据所述回波信号和所述信号识别矩阵获取待测目标的方位角。
2.根据权利要求1所述的测向方法,其特征在于,所述根据所述斜距历程确定回波信号,具体包括:
获取外辐射源信号f(t)=exp{j2πft};
根据所述外辐射源信号和所述待测目标的斜距历程函数确定待测目标的初始回波信号为:
对所述初始回波信号解调并离散采样后,获得处理后的回波信号:
其中,f(t)为外辐射源信号,g(t)为待测目标的初始回波信号,g(m)为待测目标的处理后的回波信号,exp{j……}为复数的指数形式,f为所述外辐射源信号的频率,t表示接收机接收信号的时间,σ为待测目标的散射强度,R(t)表示所述待测目标的斜距历程,C表示光速,λ表示外辐射源信号的波长,RT为待测目标与外辐射源之间的距离,R0是待测目标到转动中心的距离,a为所述椭圆轨迹的半长轴,b为所述椭圆轨迹的半短轴,α为待测目标方位角,ωt=θ是椭圆轨迹转动的角度;Δt为系统采样的时间步长,m表示第m次采样,M为在成像过程中总采样次数,m=1,2,…,M,
3.根据权利要求2所述的测向方法,其特征在于,所述构建待测目标识别区域的信号识别矩阵,具体包括:
构建待测目标识别区域的信号识别矩阵为:
其中,m=1,2,…,M;n=1,2,…N;其中Δα为遍历步长,共遍历N次。
4.根据权利要求1所述的测向方法,其特征在于,所述根据所述回波信号和所述信号识别矩阵获取待测目标的方位角,具体包括:
确定待测目标的测向预处理矩阵:f(m,n)=g(m)G*(m,n);其中f(m,n)为所述测向预处理矩阵,g(m)为回波信号,G(m,n)为所述信号识别矩阵;
确定待测目标的位置函数:其中m表示第m次采样,M为在成像过程中总采样次数,n表示第n次遍历,共遍历N次;
确定所述待测目标的位置函数F(n)的峰值;
根据所述待测目标的位置函数F(n)的峰值对应的n值,确定待测目标的方位角为nΔαrad。
5.一种无源雷达测向系统,其特征在于,所述测向系统包括:
接收机转动的轨迹函数获取模块,用于获取接收机绕转动中心转动的轨迹函数,所述接收机绕转动中心转动的轨迹为椭圆轨迹;
待测目标的斜距历程函数获取模块,用于根据所述轨迹函数获取待测目标的斜距历程函数,所述斜距历程函数为外辐射源信号经过所述待测目标到达接收机经过的历程函数;所述斜距历程函数为R(t)=RT+R0-acosαcos(ωt)-bsinαsin(ωt),其中R(t)表示待测目标的斜距历程,RT为待测目标与外辐射源之间的距离,R0是待测目标到转动中心的距离,a为所述椭圆轨迹的半长轴,b为所述椭圆轨迹的半短轴,α为待测目标方位角,ωt=θ是椭圆轨迹转动的角度;
回波信号确定模块,用于根据所述斜距历程确定回波信号;
信号识别矩阵构建模块,用于构建待测目标识别区域的信号识别矩阵;
待测目标的方位角获取模块,用于根据所述回波信号和所述信号识别矩阵获取待测目标的方位角。
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