[发明专利]双极器件位移损伤引起的性能退化的等效评价方法有效
申请号: | 201810135800.2 | 申请日: | 2018-02-09 |
公开(公告)号: | CN108334706B | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
发明(设计)人: | 李兴冀;杨剑群;刘超铭;董尚利 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G06F30/367 | 分类号: | G06F30/367;G06F111/08 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 毕雅凤 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 器件 位移 损伤 引起 性能 退化 等效 评价 方法 | ||
1.双极器件位移损伤引起的性能退化的等效评价方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一、基于地面异种粒子辐照源,确定位移损伤引起的性能退化与位移吸收剂量的函数关系曲线;
步骤一具体包括以下步骤:
步骤一一、确定双极器件的中性基区范围,发射极与中性基区的边界距上表面的距离为t1,中性基区与集电区的边界距上表面的距离为t2,则中性基区的厚度为t2-t1
步骤一二、选定粒子,该粒子满足如下两个条件:
(1)射程不小于2t2,
(2)比例关系系数αi小于3,αi=log(Di/Dd),Di和Dd分别为该粒子在中性基区内的电离吸收剂量和位移吸收剂量;
步骤一三、基于步骤一二选定的粒子进行辐照试验,测试双极器件中性基区的典型电性能参数与辐照注量的函数关系曲线;
步骤一四、将辐照注量点Φn转换为位移吸收剂量点DT,DT=Φn·Dd;
将典型电性能参数与辐照注量的函数关系曲线转换为典型电性能参数与位移吸收剂量的函数关系曲线;
更换粒子,并重复步骤一二至步骤一四,直至得到至少三种粒子的典型电性能参数与位移吸收剂量的函数关系曲线;
步骤一五、将得到的多条函数关系曲线进行拟合即得到性能退化与位移吸收剂量的函数关系曲线;
步骤二、针对特定轨道和任务要求计算该轨道下的电离吸收剂量DI和位移吸收剂量DD,当双极器件以位移损伤为主时,根据步骤一的函数关系曲线找到该位移吸收剂量DD所对应的性能退化情况,完成对在轨双极器件的性能退化的评价。
2.根据权利要求1所述的双极器件位移损伤引起的性能退化的等效评价方法,其特征在于,当log(DI/DD)小于3时,认定双极器件以位移损伤为主。
3.根据权利要求1所述的双极器件位移损伤引起的性能退化的等效评价方法,其特征在于,所述粒子为电子、质子、中子或重离子。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工业大学,未经哈尔滨工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810135800.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。