[发明专利]一种YRT转台轴承轴向游隙的检测及选配方法在审
| 申请号： | 201810136716.2 | 申请日： | 2018-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN108627073A | 公开（公告）日： | 2018-10-09 |
| 发明（设计）人： | 马莹;范雨晴;宁晋;胡敬原;赵洋;李江斌 | 申请（专利权）人： | 洛阳轴承研究所有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/14 | 分类号： | G01B5/14 |
| 代理公司： | 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 | 代理人： | 韩天宝 |
| 地址： | 471000 河南*** | 国省代码： | 河南;41 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 内圈 游隙 选配 滚子 轴向 轴向游隙 负游隙 测量轴承 尺寸要素 摩擦力矩 轴承装配 转台轴承 尺寸链 检测 修磨 预紧 测量 | ||
1.一种YRT转台轴承轴向游隙的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
测量轴承的内圈高度，以及上排轴向滚子的最高点距内圈基准面的距离；
将内圈高度与上排轴向滚子的最高点距内圈基准面的距离作差，得到的差值与设定的游隙值作比较：
若差值大于设定的游隙值，判断该YRT转台轴承的轴向负游隙量过小；
若差值小于设定的游隙值，判断该YRT转台轴承的轴向负游隙量过大。
2.一种YRT转台轴承轴向游隙的选配方法，其特征在于，包括如下步骤：
测量轴承的内圈高度，以及上排轴向滚子的最高点距内圈基准面的距离；
将内圈高度与上排轴向滚子的最高点距内圈基准面的距离作差，得到的差值与设定的游隙值作比较：
若差值大于设定的游隙值，判断该YRT转台轴承的轴向负游隙量过小，修磨内圈的凸缘上端面(A端面)；
若差值小于设定的游隙值，判断该YRT转台轴承的轴向负游隙量过大，修磨内圈的凸缘下端面或外圈端面。
3.根据权利要求2所述的YRT转台轴承轴向游隙的选配方法，其特征在于，修磨内圈的凸缘上端面(A端面)的修磨量为：
s＝H-HW-Ga
其中，s为修磨量，H为内圈高度，HW为上排轴向滚子的最高点距内圈基准面的距离，Ga为设定的游隙值。
4.根据权利要求2所述的YRT转台轴承轴向游隙的选配方法，其特征在于，修磨内圈的凸缘下端面或外圈端面的修磨量为：
s＝HW+Ga-H
其中，s为修磨量，H为内圈高度，HW为上排轴向滚子的最高点距内圈基准面的距离，Ga为设定的游隙值。
5.根据权利要求2所述的YRT转台轴承轴向游隙的选配方法，其特征在于，测量内圈凸缘上端面(A端面)上圆周均布至少三个位置的高度并求取平均值，以该平均值作为所述内圈高度。
6.根据权利要求2所述的YRT转台轴承轴向游隙的选配方法，其特征在于，测量上排轴向滚子上圆周均布的至少三个位置的上排轴向滚子的最高点距内圈基准面的距离并求取最小值，以该最小值作为所述上排轴向滚子的最高点距内圈基准面的距离。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于洛阳轴承研究所有限公司，未经洛阳轴承研究所有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810136716.2/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
