[发明专利]一种基于模板匹配的低分辨率恒星连续谱自动拟合方法

权利要求书

1.一种基于模板匹配的低分辨率恒星连续谱自动拟合方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)下载数据库中不同恒星参数Teff，logg，[Fe/H]的Kurucz模板光谱；

2)在步骤1)所述的模板光谱上选取位于连续谱上的点；

3)利用B样条函数，拟合选择出来的点，对整个光谱波长范围进行插值；若B样条函数结果不是非常理想，则通过增加、减少选择的点或改变点的位置调节；

4)对待测光谱处理，首先进行模板匹配，找到与待测光谱最接近的模板；由于待测光谱的流量值与模板光谱流量值存在尺度上的差异，通常相差一个倍数；且待测光谱受到星际消光影响，存在一定的红化，或者待测光谱在做流量定标的时候，存在定标误差，在待测光谱与模板匹配的过程中，需要增加一个多项式进行调节，即匹配待测光谱与模板光谱*P(5)；P(5)为一个波长为自变量的5次多项式；匹配可以使用K平方的方法进行匹配；

5)利用最佳匹配的模板的连续谱乘以步骤4)拟合的多项式作为待测光谱的连续谱；即待测光谱的连续谱＝通过人工选点B样条插值的连续谱*P(5)。

2.根据权利要求1所述的一种基于模板匹配的低分辨率恒星连续谱自动拟合方法，其特征在于：步骤2)中在模板光谱上采用手动点点的方式选取位于连续谱上的点。