[发明专利]一种太阳能级多晶硅片表面制绒方法在审
申请号: | 201810145887.1 | 申请日: | 2018-02-12 |
公开(公告)号: | CN108470795A | 公开(公告)日: | 2018-08-31 |
发明(设计)人: | 丁一;余刚;闫永斌 | 申请(专利权)人: | 镇江仁德新能源科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0236;C30B33/10 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 陈国强 |
地址: | 212200 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 太阳能级多晶硅 酸洗溶液 去离子水 清洗 表面制绒 混合溶液 吹干 配制 穿过 腐蚀 强碱溶液 陷光性能 压缩气体 多晶硅 酸溶液 凹坑 绒面 沾附 | ||
本发明提供了一种太阳能级多晶硅片表面制绒方法,包括以下步骤:步骤A,酸洗溶液配制:配制含有HNO3、HF和H2SiF6的酸洗溶液;步骤B,酸腐:将太阳能级多晶硅片穿过酸洗溶液后,采用去离子水清洗沾附在太阳能级多晶硅片表面的酸洗溶液;步骤C,碱腐:将太阳能级多晶硅片穿过强碱溶液,进行碱腐,然后采用去离子水进行清洗;步骤D,HF和HCl混合溶液腐蚀:采用HF和HCl的混合溶液进行酸腐后,去离子水清洗;步骤E,吹干:采用压缩气体将步骤D中的太阳能级多晶硅片表面的水分吹干。本发明解决了相同条件下多晶硅在仅含HNO3和HF酸溶液中腐蚀过快,绒面凹坑宽度过大且深度不够,不利于其陷光性能的提高的问题。
技术领域
本发明属于多晶硅技术领域,特别涉及一种应用于多晶硅片表面制绒的方法。
背景技术
目前,多晶硅表面织构化的方法主要有机械刻槽、激光刻槽、反应离子体蚀刻、酸腐蚀制绒等,其中各向同性酸腐制绒技术的工艺简单,可以较容易地整合到多晶硅太阳能电池的生产工序中,同时成本最低,因而在大规模的工业生产中得到了广泛的应用。在各向同性酸腐制绒技术中,目前常采用浓硝酸和盐酸混合酸溶液对多晶硅片进行腐蚀,但该种混合溶液往往存在对于多晶硅片腐蚀量过大的问题,并难以调整工艺条件将其腐蚀量控制在合适的范围。
发明内容
本发明的目的在于提供一种太阳能级多晶硅片表面制绒方法,以解决相同条件下多晶硅在仅含HNO3和HF酸溶液中腐蚀过快,绒面凹坑宽度过大且深度不够,不利于其陷光性能的提高的问题。
为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:
一种太阳能级多晶硅片表面制绒方法,包括以下步骤:
步骤A,酸洗溶液配制:配制含有HNO3、HF和H2SiF6的酸洗溶液;
步骤B,酸腐:将太阳能级多晶硅片穿过酸洗溶液后,采用去离子水清洗沾附在太阳能级多晶硅片表面的酸洗溶液;
步骤C,碱腐:将太阳能级多晶硅片穿过强碱溶液,进行碱腐,然后采用去离子水进行清洗;
步骤D,HF和HCl混合溶液腐蚀:采用HF和HCl的混合溶液进行酸腐后,去离子水清洗;
步骤E,吹干:采用压缩气体将步骤D中的太阳能级多晶硅片表面的水分吹干。
所述步骤A中,HNO3、HF和H2SiF6的质量比为450-490:60-100:1-5;优选的,HNO3、HF和H2SiF6的质量比为470:80:2。酸洗溶液的溶剂为纯水,纯水的质量含量为30-40%。
所述步骤A中,酸洗溶液的温度为6-9℃。
所述步骤B中,太阳能级多晶硅片以1-1.5m/min的速度穿过酸洗溶液。
所述步骤C中,太阳能级多晶硅片以1-1.5m/min的速度穿过强碱溶液;强碱溶液的pH值为3-4。
所述步骤D中,HCl和HF质量比为10:1-2:1;优选的,HCl和HF质量比为5:1。混合溶液的溶剂为纯水,纯水的质量含量为70-95%。
本发明的原理是:
第一步:硅的氧化:
硝酸和氢氟酸的混合液可以起到很好的腐蚀作用,硝酸的作用是使单质硅氧化为二氧化硅,其反应为:
3Si+4HNO3=3SiO2+2HO2+4NO
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的