[发明专利]一种锁相环电路单粒子敏感性的量化评估方法

权利要求书

1.一种锁相环电路单粒子敏感性的量化评估方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

步骤S1，通过电路仿真或示波器测试，获得锁相环在被辐照前的输出波形；

步骤S2，对所述锁相环进行单粒子效应仿真或实验，捕获所述锁相环在被辐照后其锁定检测信号跳变前后时间段[t_l-t_d，t_l+t_d]内的输出波形，其中，t_l表示锁定检测信号发生跳变的时刻，t_d表示延迟时间；

步骤S3，根据所述步骤S1中获得的输出波形，计算获得所述锁相环在被辐照前的相位偏移根据所述步骤S2中获得的输出波形，计算获得所述锁相环在被辐照后的相位偏移

步骤S4，将所述锁相环在被辐照前的相位偏移进行时域累加，获得所述锁相环在被辐照前的累积相位偏移J_disp,pre(t)；将所述锁相环在被辐照后的相位偏移进行时域累加，获得所述锁相环在被辐照后的累积相位偏移J_disp,post(t)；

步骤S5，将所述锁相环在被辐照后的累积相位偏移J_disp,post(t)减去所述锁相环在被辐照前的累积相位偏移J_disp,pre(t)，以获得累积相位抖动J_accp(t)；

步骤S6，将所述累积相位抖动J_accp(t)等效为一个阶跃响应，利用所述阶跃响应的稳定值量化评估锁相环电路的单粒子敏感性。

2.根据权利要求1所述的锁相环电路单粒子敏感性的量化评估方法，其特征在于，在所述步骤S1中，若在电路设计阶段，则利用Hspice或Spectre软件对所述锁相环进行电路仿真，以获得所述锁相环在被辐照前的输出波形；若在硅后验证阶段，则利用示波器测试获得所述锁相环在被辐照前的输出波形。

3.根据权利要求1所述的锁相环电路单粒子敏感性的量化评估方法，其特征在于，在所述步骤S2中，若在电路设计阶段，则利用单粒子效应模型对所述锁相环的所有节点进行仿真，当所述锁相环的锁定检测信号由高电平跳变到低电平时，所述锁相环失去锁定，以获得所述锁相环在被辐照后其锁定检测信号跳变前后时间段[t_l-t_d，t_l+t_d]内的输出波形；若在硅后验证阶段，则对所述锁相环进行单粒子效应实验，利用多通道示波器同时检测所述锁相环的锁定检测信号和输出波形，设置所述多通道示波器的触发条件和数据存储范围，当锁定检测信号由高电平跳变到低电平时，捕捉所述锁相环在被辐照后其锁定检测信号跳变前后时间段[t_l-t_d，t_l+t_d]内的输出波形，并对该输出波形进行实时保存。

4.根据权利要求1所述的锁相环电路单粒子敏感性的量化评估方法，其特征在于，在所述步骤S3中，根据公式(1)计算获得所述锁相环在被辐照前的相位偏移

根据公式(2)计算获得所述锁相环在被辐照后的相位偏移

其中，T_pre(τ)表示所述锁相环在被辐照前的实际周期，T_post(τ)表示所述锁相环在被辐照后的实际周期，T_r表示所述锁相环的理想时钟周期。

5.根据权利要求1所述的锁相环电路单粒子敏感性的量化评估方法，其特征在于，在所述步骤S4中，根据公式(3)计算获得所述锁相环在被辐照前的累积相位偏移J_disp,pre(t)：

根据公式(4)计算获得所述锁相环在被辐照后的累积相位偏移J_disp,post(t)：